[发明专利]光电二极管仿真器、测试电路和仿真光电二极管的方法有效
申请号: | 201880021700.5 | 申请日: | 2018-02-26 |
公开(公告)号: | CN110476071B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | M·拉杰;Y·弗兰斯;K-Y·常 | 申请(专利权)人: | 赛灵思公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;H03K17/78 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李兴斌 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电二极管 仿真器 测试 电路 仿真 方法 | ||
1.一种光电二极管仿真器电路,包括:
第一电流源电路;
第一晶体管和第二晶体管,其源极连接在一起并且连接到所述第一电流源电路的输出,所述第二晶体管的漏极连接到第一节点;
第三晶体管,连接在所述第一晶体管的漏极和复制负载电路之间;
第二电流源电路,连接到所述第一节点;
电容器,连接在所述第一节点与电气地之间;以及
第四晶体管,其源极连接到所述第一节点,并且漏极提供输出电流;
其中所述第一晶体管的栅极接收第一逻辑信号,所述第二晶体管的栅极接收第二逻辑信号,并且所述第一逻辑信号和所述第二逻辑信号是彼此的逻辑补码。
2.根据权利要求1所述的光电二极管仿真器电路,其中所述第四晶体管的栅极接收第三逻辑信号。
3.根据权利要求1-2中任一项所述的光电二极管仿真器电路,其中所述第三晶体管的栅极连接到所述电气地。
4.根据权利要求1-2中任一项所述的光电二极管仿真器电路,其中所述第一电流源电路包括:
第五晶体管和第六晶体管,其栅极在第二节点处连接在一起,其中所述第五晶体管和所述第六晶体管的源极连接到供电电压,所述第六晶体管的漏极是所述第一电流源电路的所述输出,并且所述第五晶体管的漏极连接到所述第二节点;以及
连接在所述第二节点和所述电气地之间的电流源。
5.根据权利要求4所述的光电二极管仿真器电路,其中所述第二电流源包括:
第七晶体管,具有连接到所述供电电压的源极、连接到所述第二节点的栅极以及漏极;
第八晶体管,具有连接到所述第七晶体管的所述漏极的源极、连接到所述电气地的栅极以及连接到所述第一节点的漏极。
6.一种接收器中的测试电路,包括:
数据生成器,被配置成生成第一逻辑信号和第二逻辑信号,所述第一逻辑信号和所述第二逻辑信号是彼此的逻辑补码;以及
光电二极管仿真器电路,包括:
第一电流源电路;
第一晶体管和第二晶体管,其源极连接在一起并且连接到所述第一电流源电路的输出,其中所述第二晶体管的漏极连接到第一节点,并且所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极分别接收所述第一逻辑信号和所述第二逻辑信号;
第三晶体管,连接在所述第一晶体管的漏极和复制负载电路之间;
第二电流源电路,连接到所述第一节点;
电容器,连接在所述第一节点与电气地之间;以及
第四晶体管,其源极连接到所述第一节点,并且漏极提供输出电流。
7.根据权利要求6所述的测试电路,其中所述第四晶体管的所述栅极接收第三逻辑信号。
8.根据权利要求6至7中任一项所述的测试电路,其中所述第三晶体管的所述栅极连接到所述电气地。
9.根据权利要求6至7中任一项所述的测试电路,其中所述第一电流源电路包括:
第五晶体管和第六晶体管,其栅极在第二节点处连接在一起,其中所述第五晶体管和所述第六晶体管的源极连接到供电电压,所述第六晶体管的漏极是所述第一电流源电路的所述输出,并且所述第五晶体管的漏极连接到所述第二节点;以及
连接在所述第二节点和所述电气地之间的电流源。
10.根据权利要求9所述的测试电路,其中所述第二电流源包括:
第七晶体管,具有连接到所述供电电压的源极、连接到所述第二节点的栅极以及漏极;
第八晶体管,具有连接到所述第七晶体管的所述漏极的源极、连接到所述电气地的栅极以及连接到所述第一节点的漏极。
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