[发明专利]光电二极管仿真器、测试电路和仿真光电二极管的方法

说明书

一种示例光电二极管仿真器电路(202)包括：第一电流源电路(M1，M2，Iref)；第一和第二晶体管(M4，M5)，其源极耦合在一起并且耦合到第一电流源电路的输出，第二晶体管的漏极耦合到第一节点(N2)；第三晶体管(M7)，耦合在第一晶体管的漏极和复制负载电路(302)之间；第二电流源电路(M3，M6)，耦合到第一节点；电容器(C1)，耦合在第一节点和电气地之间；以及第四晶体管(M8)，其源极耦合到第一节点，并且漏极提供输出电流。

技术领域

本公开的示例总体上涉及电子电路，并且更具体地涉及对光学接收器进行电测试。

背景技术

设计集成电路(IC)涉及全面的自测试。对于具有光电集成的IC而言，这种自测试变得更加重要。在与光电二极管(PD)集成之前，应当先对光学接收器进行电气测试。之前对光学接收器进行电测试的技术仅允许调整数据眼开口。这样的技术不允许仿真不同的光电二极管电容的效果和/或仿真改变光学发射器激光功率的效果。

发明内容

在一个示例中，光电二极管仿真器电路包括：第一电流源电路；第一和第二晶体管，其源极耦合在一起并且耦合到第一电流源电路的输出，第二晶体管的漏极耦合到第一节点；第三晶体管，耦合在第一晶体管的漏极和复制负载电路之间；第二电流源电路，耦合到第一节点；电容器，耦合在第一节点与电气地之间；以及第四晶体管，其源极耦合到第一节点，并且漏极提供输出电流。

在一些实施例中，第一晶体管的栅极可以接收第一逻辑信号，第二晶体管的栅极可以接收第二逻辑信号，并且第一和第二逻辑信号可以是彼此的逻辑补码。

在一些实施例中，第四晶体管的栅极可以接收第三逻辑信号。

在一些实施例中，第三晶体管的栅极可以耦合到电气地。

在一些实施例中，第一电流源电路可以包括第五和第六晶体管，其栅极在第二节点处耦合在一起。第五和第六晶体管的源极可以耦合到供电电压。第六晶体管的漏极可以是第一电流源电路的输出，并且第五晶体管的漏极可以耦合到第二节点。电流源可以耦合在第二节点和电气地之间。

在一些实施例中，第二电流源可以包括第七晶体管，该第七晶体管具有耦合到供电电压的源极、耦合到第二节点的栅极以及漏极。第八晶体管可以具有耦合到第七晶体管的漏极的源极、耦合到电气地的栅极以及耦合到第一节点的漏极。

在另一示例中，一种接收器中的测试电路包括：数据生成器，被配置成生成第一和第二逻辑信号，该第一和第二逻辑信号是彼此的逻辑补码；以及光电二极管仿真器电路。光电二极管仿真器电路包括：第一电流源电路；第一和第二晶体管，其源极耦合在一起并且耦合到第一电流源电路的输出，其中第二晶体管的漏极耦合到第一节点，并且第一和第二晶体管的栅极分别接收第一和第二逻辑信号；第三晶体管，耦合在第一晶体管的漏极和复制负载电路之间；第二电流源电路，耦合到第一节点；电容器，耦合在第一节点与电气地之间；以及第四晶体管，其源极耦合到第一节点，并且漏极提供输出电流。

在一些实施例中，第一晶体管的栅极可以接收第一逻辑信号，第二晶体管的栅极可以接收第二逻辑信号，并且第一和第二逻辑信号可以是彼此的逻辑补码。

在一些实施例中，第四晶体管的栅极可以接收第三逻辑信号。

在一些实施例中，第三晶体管的栅极可以耦合到电气地。

在一些实施例中，第一电流源电路可以包括第五和第六晶体管，其栅极在第二节点处耦合在一起。第五和第六晶体管的源极可以耦合到供电电压。第六晶体管的漏极可以是第一电流源电路的输出，并且第五晶体管的漏极可以耦合到第二节点。电流源可以耦合在第二节点和电气地之间。

在一些实施例中，第二电流源可以包括第七晶体管，该第七晶体管具有耦合到供电电压的源极、耦合到第二节点的栅极以及漏极。第八晶体管可以具有耦合到第七晶体管的漏极的源极、耦合到电气地的栅极以及耦合到第一节点的漏极。