[发明专利]光学测量装置

说明书

多个光检测器(31)形成受光组，且多个受光组形成一个像素。受光阵列部(3)具备一个以上这样的像素。光检测器通过光子的入射而输出脉冲信号。测量部(4)设置于多个受光组中的每一个受光组。测量部根据从受光组输出的脉冲信号，生成表示从由外部输入的照射定时开始的经过时间的时间信息、以及在根据时间信息确定出的一个以上的定时中的每一个定时获取的光量信息。作为光量信息，使用属于受光组的多个光检测器中的输出脉冲信号的光检测器的数量。

相关申请的交叉引用

本国际申请主张基于在2017年4月10日向日本专利厅申请的日本专利申请第2017－077484号以及在2018年3月16日向日本专利厅申请的日本专利申请第2018－049416号的优先权，并通过参照将日本专利申请第2017－077484号以及日本专利申请第2018－049416号的全部内容引用至本国际申请。

技术领域

本公开涉及求出光的飞行时间的技术。

背景技术

已知有通过使用排列有多个SPAD的SPAD阵列，并对从入射有光子的各个SPAD输出的脉冲信号的数量(以下，响应数)进行计数来检测受光强度的光检测器。SPAD是SinglePhoton Avalanche Diode(单光子雪崩二极管)的缩写。SPAD是以盖革模式动作并能够检测单个光子的入射的雪崩光电二极管。

在专利文献1中，记载有假设在照射光后由光检测器检测出的响应数为触发阈值以上的情况下接收到反射光，从而测量从照射到受光的光的飞行时间(以下，TOF)，并根据该测量出的TOF求出到反射出光的物体的距离的技术。TOF是Time Of Flight的缩写。另外，为了除去入射至SPAD阵列的干扰光等的影响，进行反复实施TOF的测量，创建按测量时间累计响应数的直方图，并将根据直方图的极大值获得的时间用于距离的计算的处理。

专利文献1：日本特开2014－81254号公报

然而，发明人进行详细研究的结果，在专利文献1所记载的现有技术中，发现了以下的课题。

即，在现有技术中，为了提高检测性能，在使SPAD阵列所包含的SPAD的数量增加的情况下，光检测器中的响应数增加，伴随于此，测量TOF的后段的计时电路的处理负荷增大。若该处理负荷超过计时电路的处理能力，则反而使检测性能降低。

对于此，考虑通过抑制SPAD的灵敏度来抑制响应数。但是，在该情况下，无法检测强度较弱的来自远距离的反射光、来自反射率较低的物体的反射光。

发明内容

本公开的一个方面在于提供一种能够不使检测灵敏度降低地减少计时电路的处理的技术。

作为本公开的一个方式的光检测装置具备受光阵列部、多个测量部、以及信号处理部。

受光阵列部构成为通过光子的入射输出脉冲信号的多个光检测器形成受光组，多个受光组形成一个像素，该受光阵列部具备一个以上这样的像素。

测量部设置于多个受光组中的每一个受光组。测量部根据从受光组输出的脉冲信号，生成表示从由外部输入的照射定时开始的经过时间的时间信息、以及在根据上述时间信息确定出的一个以上的定时中的每一个定时获取的光量信息。此外，作为光量信息，使用属于受光组的多个光检测器中的输出脉冲信号的光检测器的数量。

信号处理部根据由与一个像素对应的多个测量部测量出的时间信息或者光量信息的至少一方，求出光的飞行时间。

根据这样的结构，能够抑制使各个测量部处理的脉冲信号的数量，而不使光检测器的灵敏度降低。

此外，权利要求书中记载的括弧内的附图标记表示与作为一个方式后述的实施方式中记载的具体单元的对应关系，并不限定本公开的技术范围。

附图说明

图1是表示第一实施方式的激光雷达的结构的框图。