[发明专利]绝缘物中缺陷的检测方法

权利要求书

1.一种绝缘物中缺陷的检测方法，该检测方法通过使用X射线模块对测定对象绝缘物照射X射线，诱导所述测定对象绝缘物内部存在的气孔中的气体电离，对测定对象绝缘物中产生的局部放电进行测定；该检测方法包括：

以对所述测定对象绝缘物照射X射线的方向为基准，测定所述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤；以及

根据所述测定对象绝缘物的截面积和厚度，调节施加在所述X射线模块的X射线发生部的施加电压和施加电流的X射线输出控制步骤；

其中，所述X射线输出控制步骤包括：

施加电压的调节步骤，根据所述测定对象绝缘物的厚度，调节所述施加电压的步骤；以及

施加电流的调节步骤，根据所述测定对象绝缘物的截面积，调节所述施加电流的步骤；

所述施加电压的调节步骤包括：将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上时，将所述施加电压设定为事先设定的高电压，所述测定对象绝缘物的厚度不足所述标准厚度时，将所述施加电压设定为比所述高电压低的事先设定的中电压或比所述中电压更低的事先设定的低电压的步骤；

所述施加电流的调节步骤包括：将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的截面积为所述事先设定的标准面积以上时，将所述施加电流设定为事先设定的大电流，所述测定对象绝缘物的截面积不足所述标准面积时，将所述施加电流设定为比所述大电流低的中电流或比所述中电流更小的事先设定的小电流的步骤。

2.根据权利要求1所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，在测定所述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤之后，进一步包括测定所述测定对象绝缘物和所述X射线发生部之间的间隔距离的步骤；所述X射线输出控制步骤包括，根据所述间隔距离，调节施加在所述X射线发生部的施加电压和施加电流的步骤。

3.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：

将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上且所述测定对象绝缘物的截面积为所述标准面积以上时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；

所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为事先设定的中电压，将所述施加电流设定为事先设定的中电流；所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为所述中电压或比所述中电压高的事先设定的高电压，将所述施加电流设定为比所述中电流更大的事先设定的大电流；所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述高电压，将所述施加电流设定为所述大电流。

4.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：

将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上且所述测定对象绝缘物的截面积不足所述标准面积时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；

所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述事先设定的中电压，将所述施加电流设定为事先设定的小电流；

所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为所述中电压或比所述中电压高的事先设定的高电压，将所述施加电流设定为所述小电流或比所述小电流更大的事先设定的中电流；

所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述高电压，将所述施加电流设定为比所述中电流更大的事先设定的大电流。