[发明专利]绝缘物中缺陷的检测方法

说明书

本发明涉及绝缘物中缺陷的检测设备，该设备包括：外盒，其内部具备能够收纳测定对象绝缘物的试验舱；耐电压试验机，其对收纳在所述试验舱的测定对象绝缘物施加电压；多个X射线模块，其设置在所述试验舱且向不同区域或不同方向照射X射线；以及，局部放电传感器，其测定收纳在所述试验舱的测定对象绝缘物中产生的局部放电。

技术领域

本发明涉及绝缘物中缺陷的检测设备、用于固定其测定对象绝缘物的夹具及绝缘物中缺陷的检测方法。

背景技术

气体绝缘开闭设备(Gas Insulated Sweitchgear,GIS)的内部适用以支撑各种导体类为目的的环氧材料的绝缘物。

上述适用于气体绝缘开闭设备的绝缘物由于在高电压环境下使用，所以需要高的耐电压性能，且需要在高电压环境下也有稳定的绝缘性能。

但是，绝缘物中存在气孔(Void)时，就会随时间经过，产生气孔内部的气体的电离(Ionization)，并且因这样的气体电离而产生局部放电。

绝缘物中持续产生局部放电时，就会引起材料物性的急剧下降，其结果造成绝缘物的绝缘破坏。因此，从绝缘物的制造阶段需要通过精密检查来选择良品。

专利公开公报第10-1998-0066157号公开了绝缘物的局部放电测定设备。这样的以往技术的局部放电测定设备是，单纯地对测定对象绝缘物施加高压电源且等待至产生局部放电后，测定局部放电信号。

但是，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，需要等待至气孔中的气体电离所需的时间、即产生放电延迟，因此存在测定缺陷需要很长时间的缺点。

另外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，为了气体的电离而需要非常高的电压，所以存在测定时消耗大量电力的缺点。

此外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，为了绝缘物的气孔中存在的气体的电离而需要施加高电压，所以因测定时施加在绝缘物的高电压而加深绝缘物所受的压力，其结果存在降低产品寿命的缺点。

另外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，测定结果依赖于环境噪音和试验者的经验等，因此存在测定可信性不高的缺点。

发明内容

为解决上述以往技术的问题点中至少一部分而提出本发明，本发明一个目的是缩短用于测定绝缘物的缺陷所需的时间，减小用于测定缺陷所需的电压大小。

另外，本发明另一个目的是防止绝缘物的材料物性的降低，将多个绝缘物一次性固定，将施加在绝缘物的X射线能量的衰减最小化。

课题解决手段

本发明涉及的绝缘物中缺陷的检测设备包括：外盒，其内部具备能够收纳测定对象绝缘物的试验舱；耐电压试验机，其对收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物施加电压；多个X射线模块，其设置在上述试验舱且向不同区域或不同方向照射X射线；以及，局部放电传感器，其测定收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物中产生的局部放电。

另外，上述多个X射线模块可以相互独立地工作。

此外，上述多个X射线模块包括：多个上部X射线模块，其位于上述试验舱的上部，沿着上述外盒的长度方向排列，向下方照射X射线；多个左侧X射线模块，其位于上述试验舱的左侧，沿着上述外盒的长度方向排列，向右侧照射X射线；多个右侧X射线模块，其位于上述试验舱的右侧，沿着上述外盒的长度方向排列，向左侧照射X射线。

另外，上述X射线模块进一步包括正面X射线模块，其设置在上述试验舱的前方，向上述试验舱的后方照射X射线。

此外，上述X射线模块设置成可以调节与收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物之间的间隔距离。

一方面，上述外盒设置成在上述试验舱可以同时收纳多个上述测定对象绝缘物。