[发明专利]磁力计中的干扰缓解在审
申请号: | 201880026745.1 | 申请日: | 2018-02-20 |
公开(公告)号: | CN110582687A | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | A·库什勒耶夫;D·W·梅林格三世;T·范斯科克 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G01C17/38 | 分类号: | G01C17/38;G01C17/28;B64C39/02;G01R33/00 |
代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 赵腾飞 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 硬件组件 磁力计 操作状态 计算设备 输出 磁干扰 缓解 | ||
1.一种用于缓解硬件组件产生的磁力计偏差的方法,包括:
由处理器从与所述磁力计邻近的硬件组件获得操作信息;
由处理器使用所获得的操作信息执行磁干扰模型,以产生估计的磁力计偏差;以及
至少部分地基于所述估计的磁力计偏差,调整所述磁力计的输出。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,从与所述磁力计邻近的硬件组件获得操作信息包括:从在与所述磁力计相同的计算设备上包括的硬件组件获得操作信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述计算设备包括无人机。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述操作信息是以下中的至少一个:所述硬件组件中的每一个的利用测量值、电气输入、操作频率、操作模式和温度。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述磁干扰模型包括:所述操作信息的函数或者将磁干扰与所述硬件组件的操作信息进行相关的数据表。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括通过以下操作来生成所述磁干扰模型:
跨所述硬件组件的操作级别来测量由于操作或激励所述硬件组件而导致的所述磁力计的所述输出的变化或偏差;以及
将所测量的所述磁力计的所述输出的变化或偏差与获得的操作信息进行相关,以产生所述磁干扰模型。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述磁干扰模型是在包括所述硬件组件和所述磁力计的计算设备的初始操作之前生成的。
8.根据权利要求6所述的方法,其中,所述磁干扰模型是在包括所述硬件组件和所述磁力计的计算设备的初始操作期间生成的。
9.根据权利要求6所述的方法,其中:
生成所述磁干扰模型还包括:跨外部有效负载硬件组件和与所述磁力计邻近的所述硬件组件的操作级别,测量由于操作或激励所述外部有效负载硬件组件而导致的所述磁力计的所述输出的变化或偏差,以及由于所述外部有效负载硬件组件和与所述磁力计邻近的所述硬件组件而导致的所述磁力计的所述输出的组合变化或偏差;以及
将所测量的所述磁力计的所述输出的变化或偏差与所述获得的操作信息进行相关以产生所述磁干扰模型,包括:将所测量的所述磁力计的所述输出的变化或偏差与所述外部有效负载硬件组件和与所述磁力计邻近的所述硬件组件的操作级别进行相关,以产生所述磁干扰模型。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,由所述处理器从硬件组件获得操作信息还包括:由所述处理器从所述外部有效负载硬件组件获得操作信息。
11.一种磁力计系统,包括:
磁力计;以及
耦合到所述磁力计的处理器,并且所述处理器被配置有处理器可执行指令以用于:
从与所述磁力计邻近的硬件组件获得操作信息;
使用所获得的操作信息执行磁干扰模型,以产生估计的磁力计偏差;以及
至少部分地基于所述估计的磁力计偏差,调整所述磁力计的输出。
12.根据权利要求11所述的磁力计系统,其中,所述操作信息是以下中的至少一个:所述硬件组件中的每一个的利用测量值、电气输入、操作频率、操作模式和温度。
13.根据权利要求11所述的磁力计系统,其中,所述磁干扰模型包括:所述操作信息的函数或者将磁干扰与操作信息进行相关的数据表。
14.根据权利要求11所述的磁力计系统,其中,所述处理器还被配置有处理器可执行指令以通过以下操作来生成所述磁干扰模型:
跨所述硬件组件的操作级别来测量由于操作或激励所述硬件组件而导致的所述磁力计的所述输出的变化或偏差;以及
将所测量的所述磁力计的所述输出的变化或偏差与获得的操作信息进行相关,以产生所述磁干扰模型。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司,未经高通股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201880026745.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:转印状态检查系统以及元件安装机
- 下一篇:集成式球阀和超声流量计