[发明专利]集成电路中的动态扫描链重新配置有效

专利信息
申请号: 201880030360.2 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN110622016B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: P·T·肖杜里 申请(专利权)人: 赛灵思公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185;G01R31/3187;G06F11/267;G06F11/27
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郭星
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 中的 动态 扫描 重新 配置
【权利要求书】:

1.一种用于具有多个扫描链的集成电路IC的测试电路,所述测试电路包括:

第一电路和第二电路,所述第一电路包括逻辑内置自测试LBIST电路系统,并且所述第二电路包括扫描压缩器/解压缩器电路系统;以及

扫描链路由器,被耦合在所述第一电路与所述多个扫描链之间,并且被耦合在所述第二电路与所述多个扫描链之间,所述扫描链路由器响应于使能信号:(1)将所述第一电路耦合到所述多个扫描链中的每个扫描链;或者(2)将所述第二电路耦合到一个或多个级联扫描链,其中每个级联扫描链包括所述多个扫描链中的两个或更多个扫描链的级联。

2.根据权利要求1所述的测试电路,其中所述扫描压缩器/解压缩器电路系统在自动测试设备ATE与所述扫描链路由器之间提供接口。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的测试电路,其中所述多个扫描链中的每个扫描链包括:被设置在所述IC的核心逻辑中的多个顺序耦合的触发器。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试电路,其中所述扫描链路由器包括:

旁路路由器电路,被耦合在所述第一电路与所述多个扫描链之间;以及

链级联电路,被耦合在所述第二电路与所述多个扫描链之间。

5.根据权利要求4所述的测试电路,其中所述第一电路包括具有多个输出信号的输出和具有多个输入信号的输入,并且其中所述旁路路由器电路被配置为:将所述多个输出信号中的每个输出信号耦合到所述多个扫描链中的相应一个扫描链,并且接收所述多个输入信号中的每个输入信号,所述多个输入信号中的每个输入信号来自所述多个扫描链中的相应一个扫描链。

6.根据权利要求4所述的测试电路,其中所述第二电路包括具有一个或多个输出信号的输出和具有一个或多个输入信号的输入,并且其中所述链级联电路被配置为:将所述一个或多个输出信号中的每个输出信号耦合到所述一个或多个级联扫描链中的相应一个级联扫描链,并且接收所述一个或多个输入信号中的每个输入信号,所述一个或多个输入信号中的每个输入信号来自所述级联扫描链中的相应一个或多个级联扫描链。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试电路,其中所述第二电路包括:

解压缩器,包括具有所述一个或多个输出信号的所述输出;以及

压缩器,包括具有所述一个或多个输入信号的所述输入。

8.一种通过使用根据权利要求1至7中任一项所述的测试电路来测试具有多个扫描链的集成电路IC的方法,所述方法包括:

响应于使能信号,禁用LBIST模式并且使能扫描压缩器/解压缩器模式;

响应于所述使能信号,禁用扫描链路由器的旁路路由器电路,并且使能所述扫描链路由器的链级联电路;

使用所述扫描链路由器的所述链级联电路,将所述多个扫描链级联成一个或多个级联扫描链,每个级联扫描链包括所述多个扫描链中的两个或更多个扫描链的级联;

使用所述扫描链路由器,将扫描压缩器/解压缩器电路系统耦合到所述一个或多个级联扫描链;

从自动测试设备ATE接收一个或多个测试信号;

解压缩所述一个或多个测试信号;

将所述一个或多个测试信号中的每个测试信号耦合到所述级联扫描链中的相应一个级联扫描链;以及

将所述一个或多个级联扫描链中的每个级联扫描链的输出耦合到所述ATE。

9.根据权利要求4所述的测试电路,将所述第一电路耦合到所述多个扫描链中的每个扫描链包括基于所述使能信号使能所述旁路路由器电路和禁用所述级联电路,并且其中将所述第二电路耦合到一个或多个级联扫描链包括基于所述使能信号使能所述级联电路和禁用所述旁路路由器电路。

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