[发明专利]存储器决策反馈均衡器测试

权利要求书

1.一种存储器装置，其包括：

一或多个存储器组，其经配置以存储数据；

数据接收器，其经配置以：

接收失真输入数据作为数据流的部分；

将校正因数应用于所述失真输入数据以补偿从所述数据流对所述失真输入数据的符号间干扰；以及

通过将所述校正因数应用于所述失真输入数据而产生所述数据；以及

所述存储器装置内部的测试电路，其中所述测试电路经配置以产生所述数据流。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其包括耦合到所述一或多个存储器组的发射器，其中所述发射器经配置以当所述存储器装置在第一操作模式中操作时从所述存储器组接收第二数据。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中所述测试电路耦合到所述发射器，其中所述发射器经配置以当所述存储器装置在第二操作模式中操作时从所述测试电路接收所述数据流。

4.根据权利要求3所述的存储器装置，其中所述发射器包括耦合到所述存储器装置的输出连接器的多个发射器分支。

5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中所述多个发射器分支另外耦合到所述接收器。

6.根据权利要求5所述的存储器装置，其中所述测试电路经配置以产生控制信号以控制所述多个发射器分支中的每一发射器分支的选择性激活。

7.根据权利要求6所述的存储器装置，其中所述多个发射器分支中的所述选择性激活的发射器分支基于从所述测试电路接收的所述数据流而发射所述失真输入数据。

8.根据权利要求5所述的存储器装置，其中所述测试电路经配置以产生控制信号以控制所述多个发射器分支中的每一发射器分支的选择性激活和相应强度。

9.根据权利要求8所述的存储器装置，其中所述多个发射器分支中的所述选择性激活的发射器分支基于从所述测试电路接收的所述数据流而发射所述失真输入数据。

10.一种半导体装置，其包括：

所述装置内部的测试电路，其中所述测试电路经配置以：

产生包括数据值的数据流；以及

产生控制信号；

数据发射器，其经配置以基于所述控制信号更改所述数据流的所述数据值的特性；以及

数据接收器，其经配置以接收具有经更改特性的所述数据值且将所述经更改特性的相反值应用于所述数据值以再生所述数据值。

11.根据权利要求10所述的半导体装置，其中所述数据接收器经配置以将经再生数据值发射到所述测试电路。

12.根据权利要求11所述的半导体装置，其中所述测试电路经配置以将所述经再生数据值与所述数据值进行比较。

13.根据权利要求12所述的半导体装置，其中所述测试电路经配置以基于所述经再生数据值与所述数据值的所述比较而产生所述数据接收器发生故障的指示。

14.根据权利要求10所述的半导体装置，其中所述数据接收器经配置以将经再生数据值发射到经配置以存储数据的一或多个存储器组。

15.根据权利要求14所述的半导体装置，其中所述一或多个存储器组经配置以将所述经再生数据值发射到所述测试电路。

16.根据权利要求14所述的半导体装置，其中所述一或多个存储器组经配置以将所述经再生数据值发射到耦合到所述半导体装置的外部测试电路。