[发明专利]层叠型元件的制造方法在审

专利信息
申请号: 201880048563.4 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN110945628A 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 坂本刚志;杉浦隆二;近藤裕太;内山直己 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: H01L21/301 分类号: H01L21/301;B23K26/53
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 层叠 元件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种层叠型元件的制造方法,其中,

具备:

层叠工序,构成半导体晶圆的层叠体,所述半导体晶圆的层叠体具备:具有表面及背面的半导体基板、及包含沿着所述表面二维状排列的多个功能元件的电路层;及

激光照射工序,在所述层叠工序之后,对所述层叠体照射激光,由此在所述层叠体形成改质区域及龟裂,

所述层叠工序具有:

第1接合工序,准备第1晶圆及第2晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第1晶圆的各个所述功能元件与所述第2晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第2晶圆的所述电路层接合于所述第1晶圆的所述电路层;

研磨工序,在所述第1接合工序之后,研磨所述第2晶圆的所述半导体基板;及

第2接合工序,在所述研磨工序之后,准备第3晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第2晶圆的各个所述功能元件与所述第3晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第3晶圆的所述电路层接合于所述第2晶圆的所述半导体基板,

在所述激光照射工序中,对于所述第1晶圆的所述半导体基板,沿着被设定成通过所述功能元件之间的切断预定线照射所述激光,由此,沿着所述切断预定线形成所述改质区域,并且沿着所述层叠体的层叠方向使所述龟裂从所述改质区域伸展。

2.一种层叠型元件的制造方法,其中,

具备:

层叠工序,构成半导体晶圆的层叠体,所述半导体晶圆的层叠体具备:具有表面及背面的半导体基板、及包含沿着所述表面二维状排列的多个功能元件的电路层;及

激光照射工序,在所述层叠工序之后,对所述层叠体照射激光,由此在所述层叠体形成改质区域及龟裂,

所述层叠工序具有:

第1接合工序,准备第1晶圆及第2晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第1晶圆的各个所述功能元件与所述第2晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第2晶圆的所述电路层接合于所述第1晶圆的所述半导体基板;

研磨工序,在所述第1接合工序之后,研磨所述第2晶圆的所述半导体基板;及

第2接合工序,在所述研磨工序之后,准备第3晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第2晶圆的各个所述功能元件与所述第3晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第3晶圆的所述电路层接合于所述第2晶圆的所述半导体基板,

在所述激光照射工序中,对于所述第3晶圆的所述半导体基板,沿着被设定成通过所述功能元件之间的切断预定线照射所述激光,由此,沿着所述切断预定线形成所述改质区域,并且沿着所述层叠体的层叠方向使所述龟裂从所述改质区域伸展。

3.如权利要求2所述的层叠型元件的制造方法,其中,

所述层叠工序具有:在所述第1接合工序之前,准备支撑基板及所述第1晶圆,并且将所述第1晶圆的所述电路层接合于所述支撑基板的准备工序,

在所述第1接合工序中,准备所述第2晶圆及被接合于所述支撑基板的所述第1晶圆。

4.如权利要求3所述的层叠型元件的制造方法,其中,

还具备:在所述层叠工序之后,并且在所述激光照射工序之前或所述激光照射工序之后,去除所述支撑基板的支撑基板去除工序。

5.如权利要求1~4中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,

在所述激光照射工序中,以所述龟裂到达所述层叠体的所述层叠方向的两端的方式,形成所述改质区域。

6.如权利要求5所述的层叠型元件的制造方法,其中,

所述激光照射工序具有:

第1激光照射工序,对于所述半导体基板,从所述背面侧照射所述激光而形成作为所述改质区域的第1改质区域;及

第2激光照射工序,对于所述半导体基板,从所述背面侧照射所述激光而在所述第1改质区域与所述背面之间形成作为所述改质区域的第2改质区域,由此以到达所述两端的方式使所述龟裂伸展。

7.如权利要求1~6中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,

还具备:在所述激光照射工序之后,研磨形成有所述改质区域的所述半导体基板,由此去除所述改质区域的改质区域去除工序。

8.如权利要求1~7中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,

还具备:在所述激光照射工序之后,对所述层叠体施加应力,由此,沿着所述切断预定线切断所述层叠体的切断工序。

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