[发明专利]层叠型元件的制造方法在审
申请号: | 201880048563.4 | 申请日: | 2018-07-18 |
公开(公告)号: | CN110945628A | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 坂本刚志;杉浦隆二;近藤裕太;内山直己 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;B23K26/53 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 层叠 元件 制造 方法 | ||
1.一种层叠型元件的制造方法,其中,
具备:
层叠工序,构成半导体晶圆的层叠体,所述半导体晶圆的层叠体具备:具有表面及背面的半导体基板、及包含沿着所述表面二维状排列的多个功能元件的电路层;及
激光照射工序,在所述层叠工序之后,对所述层叠体照射激光,由此在所述层叠体形成改质区域及龟裂,
所述层叠工序具有:
第1接合工序,准备第1晶圆及第2晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第1晶圆的各个所述功能元件与所述第2晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第2晶圆的所述电路层接合于所述第1晶圆的所述电路层;
研磨工序,在所述第1接合工序之后,研磨所述第2晶圆的所述半导体基板;及
第2接合工序,在所述研磨工序之后,准备第3晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第2晶圆的各个所述功能元件与所述第3晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第3晶圆的所述电路层接合于所述第2晶圆的所述半导体基板,
在所述激光照射工序中,对于所述第1晶圆的所述半导体基板,沿着被设定成通过所述功能元件之间的切断预定线照射所述激光,由此,沿着所述切断预定线形成所述改质区域,并且沿着所述层叠体的层叠方向使所述龟裂从所述改质区域伸展。
2.一种层叠型元件的制造方法,其中,
具备:
层叠工序,构成半导体晶圆的层叠体,所述半导体晶圆的层叠体具备:具有表面及背面的半导体基板、及包含沿着所述表面二维状排列的多个功能元件的电路层;及
激光照射工序,在所述层叠工序之后,对所述层叠体照射激光,由此在所述层叠体形成改质区域及龟裂,
所述层叠工序具有:
第1接合工序,准备第1晶圆及第2晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第1晶圆的各个所述功能元件与所述第2晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第2晶圆的所述电路层接合于所述第1晶圆的所述半导体基板;
研磨工序,在所述第1接合工序之后,研磨所述第2晶圆的所述半导体基板;及
第2接合工序,在所述研磨工序之后,准备第3晶圆作为所述半导体晶圆,并且以所述第2晶圆的各个所述功能元件与所述第3晶圆的各个所述功能元件相互对应的方式,将所述第3晶圆的所述电路层接合于所述第2晶圆的所述半导体基板,
在所述激光照射工序中,对于所述第3晶圆的所述半导体基板,沿着被设定成通过所述功能元件之间的切断预定线照射所述激光,由此,沿着所述切断预定线形成所述改质区域,并且沿着所述层叠体的层叠方向使所述龟裂从所述改质区域伸展。
3.如权利要求2所述的层叠型元件的制造方法,其中,
所述层叠工序具有:在所述第1接合工序之前,准备支撑基板及所述第1晶圆,并且将所述第1晶圆的所述电路层接合于所述支撑基板的准备工序,
在所述第1接合工序中,准备所述第2晶圆及被接合于所述支撑基板的所述第1晶圆。
4.如权利要求3所述的层叠型元件的制造方法,其中,
还具备:在所述层叠工序之后,并且在所述激光照射工序之前或所述激光照射工序之后,去除所述支撑基板的支撑基板去除工序。
5.如权利要求1~4中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,
在所述激光照射工序中,以所述龟裂到达所述层叠体的所述层叠方向的两端的方式,形成所述改质区域。
6.如权利要求5所述的层叠型元件的制造方法,其中,
所述激光照射工序具有:
第1激光照射工序,对于所述半导体基板,从所述背面侧照射所述激光而形成作为所述改质区域的第1改质区域;及
第2激光照射工序,对于所述半导体基板,从所述背面侧照射所述激光而在所述第1改质区域与所述背面之间形成作为所述改质区域的第2改质区域,由此以到达所述两端的方式使所述龟裂伸展。
7.如权利要求1~6中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,
还具备:在所述激光照射工序之后,研磨形成有所述改质区域的所述半导体基板,由此去除所述改质区域的改质区域去除工序。
8.如权利要求1~7中任一项所述的层叠型元件的制造方法,其中,
还具备:在所述激光照射工序之后,对所述层叠体施加应力,由此,沿着所述切断预定线切断所述层叠体的切断工序。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社,未经浜松光子学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201880048563.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造