[发明专利]用于精确评估被测设备的方法和测量系统

权利要求书

1.一种用于评估被测设备的方法(100)，包括：

定义(110)被测设备DUT(30；70)的辐射中心参考CORR(52)，所述CORR(52)指示能够利用所述DUT(30)形成的电磁波图案(56)的参考原点(54)；

确定(120)相对于所述CORR(52)的3维取向信息，所述3维取向信息指示所述电磁波图案(56)的方向(58)；以及

向测量系统(80；80')提供(130)所述CORR(52)和所述3维取向信息，

其中所述CORR(52)被布置在当与所述参考原点(54)相比较时的不同的位置处并且包括关于所述CORR(52)和所述参考原点(54)之间的偏移的信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，定义所述CORR(52)包括：

确定(210)所述DUT(30；70)处的一组参考标记(32)，所述一组参考标记(32)在查看所述DUT(30；70)时是可见的或能够从所述DUT外部访问；

使用一组参考标记(32)定义(220)坐标系(36)；以及

在所述坐标系(36)内定义(230)所述CORR(52)。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述一组参考标记(32)包括紫外线标记、红外标记、温度的使用或嵌入式磁源。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述一组参考标记(32)包括以下项中的至少一项：在所述DUT(30；70)的显示器上显示的光信号图案(68)、所述DUT(30；70)的透镜、所述DUT(30；70)的发光器件、所述DUT(30；70)的电端口、电磁或磁图案、声学端口、所述DUT(30；70)的壳体的面、平面、角部和边缘。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，至少第一和第二CORR(52)被限定在所述DUT(30；70)的内部和/或外部和/或表面处的不同位置处，其中，至少对于所述第一和第二CORR，针对单个波束确定3维取向信息。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述CORR被定义为与所述DUT(30；70)的标记相关。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，定义所述CORR包括：

定义(410)能够利用所述DUT(30；70)形成的一组电磁波图案(56)，所述一组电磁波图案包括所述电磁波图案(56)；以及

对于所述一组电磁波图案中的每个电磁波图案(56)，确定所述电磁波图案(56)的参考原点(54)相对于所述CORR(52)的偏移。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，确定三维取向信息包括：

定义(410)能够利用所述DUT(30；70)形成的一组电磁波图案(56)，所述一组电磁波图案包括电磁波图案(56)；以及

确定(420)所述电磁波图案(56)的方向(58)相对于参考方向的方向偏差；

使得所述三维取向信息允许指示所述电磁波图案(56)相对于所述CORR(52)的参考原点(54)和方向(58)。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述电磁波图案(56)能够利用所述DUT(30；70)的至少第一天线阵列(44₁)和第二天线阵列(44₂)形成。