[发明专利]用于精确评估被测设备的方法和测量系统

说明书

一种方法，包括：为被测设备(DUT)定义辐射中心参考(CORR)，CORR指示可用DUT形成的电磁波图案的参考原点；确定相对于CORR的3维取向信息，该3维取向信息指示电磁波图案的方向；以及向测量系统提供CORR和3维取向信息。

技术领域

本发明涉及用于提供关于如何评估被测设备(DUT)的信息的方法、用于使用这种信息评估DUT的方法、DUT以及测量系统。本发明还涉及一种计算机程序。特别地，本发明涉及定义“辐射中心参考CORR”和坐标系的方法，并且涉及无线电发射接收组件及其在3D空间中的定位。除了使用CORRP将DUT定位在正确的位置之外，DUT还可适当对齐。

背景技术

由多个天线形成的天线或天线阵列的辐射中心是本领域技术人员熟悉的术语，因此在IEEE Std 145-2013“IEEE天线术语定义标准”[1]中进行了定义。

在空中(OTA)测量中，例如对于波束(辐射波束图案)表征，探针分布在被测设备(DUT)周围。使用关于发射DUT和测量探针周围以及它们之间的所有距离的位置的知识，可以例如通过DUT的旋转并通过以协调的方式测量许多采样点来测量发射的波束图案。使用天线测量，即以OTA测量的天线辐射图案测量，这种机制用于天线图案表征[2]是已知的。期望对于未来的通信系统，天线连接器(在当前的3GPP标准例如版本8-14中，所谓的传导测量被标准化以用于天线端口测量)已众所周知，这将成为过去的事情。因此，可以预见，无线电性能参数和天线性能参数的OTA测量将成为未来的事情。将来，许多天线测量只能以这种方式即OTA进行，因为无法访问天线端口，和/或天线阵列由许多以联合方式工作的独立元件组成。此外，这样的天线可能被嵌入诸如智能电话之类的设备的壳体内部，因此尽管天线在设备内部，但是仍必须测量它们的辐射。天线的确切位置未知，因为它们隐藏在设备壳体内侧。因此，只要测量的辐射图案不能参考天线的确切位置，这将使测量不准确[3、4、5]。此外，与设备壳体相比，微型天线尺寸可能会导致更高的不准确性。

另外，当可以假设无线电波传播是通常用于测量的远场时，用于无线电传输的载波频率定义了DUT与探针之间的距离。为了减小测量室/设备的尺寸，还可以在所谓的近场中执行测量，并且必须将这些采样点转换成等效的远场。为了做到这一点，至关重要的是要准确知道发射波束的起源，否则测量将得出波束失准的结论，从而导致许多可预防的错误[4]。此外，在近场中进行测量时，远场图案是通过近场到远场的转换得出的，其中，距辐射源和测量探针的确切距离对于准确转换至关重要。

迄今为止，天线和天线阵列分别定位在定位器上，该定位器可以在测量室或不在室中的测量系统的参考中心点移动和/或倾斜和/或旋转它们。这需要确切的知识，实际上是从哪里发射无线电波的。为了测量一个或多个天线元件的宽侧或孔侧，也可以执行DUT的定向和粗略定位。在3GPP TS 37.145-2[6]中定义了制造商声明(MD)，包括坐标系的原点和相关的坐标系，用于将有源天线系统(AAS)正确放置在室内的载体上以进行正确对齐。在解决多输入多输出(MIMO)设备的辐射性能测量的3GPP TR 37.976[7]和描述AAS的OTA测试的3GPP TR 37.842[8]中，给出了进行测试(over-the-testing)的更多示例。

因此，需要提供方法、DUT、测量系统和作为相关软件的计算机程序，以允许精确地OTA测量DUT。

发明内容

本发明的目的是提供允许精确测量DUT的方法、DUT、测量系统和计算机程序。

发明人发现，通过为被测设备定义辐射中心参考(点)并通过确定相对于该参考点的位置和方向性信息，该位置信息指示波束的原点(参考点、参考原点或测量原点)和波束的方向，可以将DUT进行高精度评估，因为评估范围可以参考参考点和待评估波束，从而可以允许获得有关未知的DUT中一个或多个天线的精确位置的信息，并同时获得精确的测量。