[发明专利]眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序在审

专利信息
申请号: 201880053887.7 申请日: 2018-08-28
公开(公告)号: CN111065883A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 武市教儿;泷井通浩;松井孝哲 申请(专利权)人: 尼德克株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 高培培;赵晶
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 眼镜 形状 测定 装置 程序
【权利要求书】:

1.一种眼镜框形状测定装置,对眼镜框架的形状进行测定,其特征在于,具备:

投光光学系统,具有光源,从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束;

受光光学系统,具有检测器,通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束;

取得单元,基于由所述检测器接收到的所述反射光束,取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状;

变更单元,变更所述反射光束的受光位置;以及

控制单元,控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

2.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述控制单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束,控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。

3.根据权利要求2所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述眼镜框形状测定装置具备取得所述反射光束的所述受光位置的位置取得单元,

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述反射光束的所述受光位置,控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。

4.根据权利要求3所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述位置取得单元取得所述镜圈的至少某个部位的所述反射光束的所述受光位置,

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述镜圈的至少某个部位的所述受光位置,控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的所述受光位置。

5.根据权利要求3或4所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述取得单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束,取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面图像作为所述截面形状,

所述位置取得单元解析所述截面图像来取得所述截面图像的位置,从而取得所述反射光束的所述受光位置,

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述截面图像的位置,控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

6.根据权利要求2~5中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述控制单元控制所述变更单元而以在所述检测器的规定的位置接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的所述受光位置。

7.根据权利要求6所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述控制单元取得所述规定的位置与所述受光位置之间的偏离信息,并基于所述偏离信息,控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述变更单元具有第一变更单元,该第一变更单元变更所述测定光束相对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽的照射位置。

9.根据权利要求1~8中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述变更单元具有第二变更单元,该第二变更单元对所述受光光学系统接收所述反射光束的受光位置进行变更。

10.根据权利要求1~9中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述取得单元分别取得所述眼镜框架的多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状,并基于取得多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状时的由所述控制单元控制的所述变更单元的变更信息,对所述截面形状进行对位而取得所述镜圈的槽的三维截面形状。

11.根据权利要求1~10中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,

所述控制单元在开始所述眼镜框架的测定之后,控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

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