[发明专利]眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序

说明书

一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，具备：投光光学系统，具有光源，从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束；取得单元，基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更反射光束的受光位置；以及控制单元，控制变更单元而以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的方式变更反射光束的受光位置。

技术领域

本公开涉及用于得到眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置及控制眼镜框形状测定装置的眼镜框形状测定程序。

背景技术

已知一种眼镜框形状测定装置，该眼镜框形状测定装置通过向眼镜框架的镜圈插入测定件，并使测定件按压于镜圈而使其移动，从而对镜圈的轮廓进行追踪来测定镜圈的形状(例如，参照专利文献1)。基于由该眼镜框形状测定装置得到的镜圈的测定结果(追踪数据)，得到用于将眼镜透镜嵌入镜圈的形状(目标形状)。并且，基于形状决定眼镜透镜的轮廓形状，通过眼镜透镜加工装置加工透镜的周缘。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2015-007536号公报

发明内容

然而，为了将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架，认为镜圈的形状和加工后的透镜的轮廓形状越近越优选。然而，在使用测定件的镜圈形状的测定中，虽然容易进行按压测定件的位置处的测定(例如，镜圈的底的部分的测定)，但难以得到镜圈的槽的截面形状。

因此，发明人对具备如下结构的眼镜框形状测定装置进行了研究：朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光，接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光，并基于反射光取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状的结构。然而，在使用这样的眼镜框形状测定装置的情况下，根据眼镜框架的形状，有时难以在检测器的规定的位置良好地接收镜圈的槽的反射光束，难以取得镜圈的槽的截面形状。

鉴于上述现有技术，本公开的技术课题在于提供能够良好地取得各种形状的眼镜框架中的镜圈的截面形状的眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序。

为了解决上述课题，本公开的特征在于具备以下的结构。

(1)本发明的第一方式的眼镜框形状测定装置是测定眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置，其特征在于，具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

(2)本公开的第一方式的眼镜框形状测定程序是在对眼镜框架的形状进行测定的眼镜框形状测定装置中执行的眼镜框形状测定程序，所述眼镜框形状测定装置具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；以及取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，所述眼镜框形状测定程序的特征在于，所述眼镜框形状测定程序通过由所述眼镜框形状测定装置的处理器执行而使所述眼镜框形状测定装置执行如下控制步骤：控制对所述反射光束的受光位置进行变更的变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的所述反射光束的方式变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

附图说明

图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。