[发明专利]用于自动化测试系统的校准过程

说明书

一种示例性方法，诸如校准方法，该方法包括：确定单元的布置的几何形状，该几何形状由被配置为将装置移动进出单元的机器人所感知；确定目标单元在单元之间的预期位置；基于由机器人感知的几何形状来确定与预期位置的偏移；以及基于偏移来校准机器人。

技术领域

本说明书整体涉及自动化测试系统及其部件。

背景技术

系统级测试(SLT)涉及测试整个装置，而不是测试装置的各个部件。如果装置通过一连串的系统级测试，那么假设装置的各个部件正常操作。随着装置的复杂性以及装置中部件数量的增加，SLT已变得更为普遍。例如，芯片实现的系统诸如应用级集成电路(ASIC)可在系统级上进行测试，以便确定构成系统的部件正在正确运行。

SLT系统传统上需要较大占有面积以便提供足够的测试速度和吞吐量。例如，一些SLT系统可占用以几十平方米为单位测量的空间。

发明内容

示例性方法(诸如校准方法)包括：确定单元的布置的几何形状，该几何形状由被配置为将装置移动进出单元的机器人所感知；确定目标单元在单元之间的预期位置；基于由机器人感知的几何形状来确定与预期位置的偏移；以及基于偏移来校准机器人。示例性方法可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

几何形状可以是第一几何形状。确定偏移可包括：基于在第一维度上单元的布置的第一几何形状和第二几何形状之间的差异来计算第一维度误差，其中第二几何形状是单元的布置的预期几何形状；以及基于在第二维度上第一几何形状和第二几何形状之间的差异来计算第二维度误差，其中偏移包括第一维度误差和第二维度误差的组合。第一维度误差和第二维度误差可相对于目标单元的预期位置来计算。校准机器人可包括将第一维度误差和第二维度误差结合到机器人的移动中以到达目标单元。

机器人可包括多个头部，并且偏移可相对于多个头部之间的第一头部来确定。校准机器人可包括校准多个头部之间的与第一头部不同的第二头部。第二头部可基于偏移和对应于第一头部和第二头部之间的位置的差异的第二偏移两者进行校准。

可通过将偏移与目标单元的感知位置组合来对机器人进行编程或以其他方式进行控制以到达目标单元的预期位置。单元可以在一个或多个托盘上，以用于保持已被测试的装置或尚未测试的装置。单元可包括一个或多个梭上的一个或多个容器，该梭被配置为在测试系统的不同级之间移动装置。机器人可以被校准到亚毫米准确度。机器人可被校准到至少0.1毫米的准确度。

本说明书(包括此发明内容部分)中所描述的特征中的任何两个或更多个可组合在一起以形成本文未具体描述的具体实施。

本文所述的系统和技术和工艺、或其一部分可被实现为计算机程序产品或被计算机程序产品控制，该计算机程序产品包括存储于一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令，并且所述指令可在一个或多个处理装置上执行以控制(例如，协调)本文所描述的操作。本文所述的系统和技术和工艺、或其一部分可被实现为设备、方法或电子系统，该设备、方法或电子系统可包括一个或多个处理装置以及存储用于实现各种操作的可执行指令的存储器。

附图和以下具体实施方式中陈述了一个或多个具体实施的详细信息。通过所述具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征结构、对象和优点将显而易见。

附图说明

图1至图19是示出在示例性操作过程期间的顺序时间实例处示例性测试系统的部件的透视框图。

图20是包含两个切片的示例性测试系统的透视图。

图21是示例性托盘单元的剖面侧视图。

图22是示例性测试载体的透视图。

图23是由位于测试器加载级下方的相机捕获的装置的电触点的图像的示例。

图24是由位于测试器加载级上方的相机捕获的测试载体中的插座的电触点的图像的示例。