[发明专利]微粒检测元件以及微粒检测器

权利要求书

1.一种微粒检测元件，其用于对气体中的微粒进行检测，其中，

所述微粒检测元件具备：

壳体，其具有供所述气体通过的气体流路；

电荷产生部，其对导入至所述壳体内的所述气体中的微粒附加通过放电而产生的电荷，由此使该微粒形成为带电微粒；

捕集部，其具有一个以上的捕集电极，所述捕集电极以在所述气体流路露出的方式设置于所述壳体内，并对所述带电微粒和未附加于所述微粒的所述电荷的任一者、即捕集对象进行捕集；以及

加热部，其对所述捕集电极进行加热，

所述壳体具有一个以上的捕集电极配设壁部，在所述捕集电极配设壁部配设有至少一个所述捕集电极，

所述捕集电极配设壁部的至少一个在与所述气体流路的中心轴垂直的截面中呈中央部分的厚度比除此以外的部分的厚度薄的中央减薄形状。

2.根据权利要求1所述的微粒检测元件，其中，

所述壳体具有对所述气体流路进行分隔的分隔部，

呈所述中央减薄形状的所述捕集电极配设壁部的至少一个为所述分隔部。

3.根据权利要求2所述的微粒检测元件，其中，

所述壳体具有多个呈所述中央减薄形状的所述捕集电极配设壁部，

呈所述中央减薄形状的所述捕集电极配设壁部的至少一个为所述壳体的外壁。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的微粒检测元件，其中，

呈所述中央减薄形状的所述捕集电极配设壁部的至少一个在所述截面中呈厚度趋向所述中央部分逐渐减薄的形状。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的微粒检测元件，其中，

所述捕集电极的至少一个呈所述中央减薄形状。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的微粒检测元件，其中，

所述捕集部具有一个以上的电场产生电极，所述电场产生电极在所述气体流路内露出，并产生使得所述捕集对象朝向所述捕集电极的至少一个移动的电场，

所述壳体具有一个以上的电场产生电极配设壁部，在所述电场产生电极配设壁部配设有至少一个所述电场产生电极，

所述电场产生电极配设壁部的至少一个呈所述中央减薄形状。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的微粒检测元件，其中，

所述气体流路的与该气体流路的中心轴垂直的截面为四边形。

8.根据权利要求1～7中任一项所述的微粒检测元件，其中，

所述微粒检测元件具备多个露出电极，这些露出电极包括所述捕集电极、且在所述气体流路内露出，

所述壳体具有连接壁部，所述连接壁部具有连接面、且呈所述中央减薄形状，所述连接面是在所述气体流路露出的内周面的一部分，并且是将所述多个露出电极中的至少两个电极连接的部分，

所述加热部对所述连接壁部进行加热。

9.一种微粒检测器，其具备：

权利要求1～8中任一项所述的微粒检测元件；以及

检测部，其基于根据所述捕集电极捕集的所述捕集对象而变化的物理量对所述微粒进行检测。