[发明专利]位移检测装置在审

专利信息
申请号: 201880057124.X 申请日: 2018-08-21
公开(公告)号: CN111065881A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 伊藤吉博 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01F23/62
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 韩聪
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位移 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种位移检测装置,具备:

多个磁传感器,沿着第一方向排列配置;以及

磁铁,沿着所述第一方向能够移动地设置,

在所述磁传感器中,将第一温度下的来自所述磁铁的施加磁场和检测值的相关函数中的来自所述磁铁的施加磁场为0时的检测值设为第一偏移值,将比所述第一温度高的第二温度下的来自所述磁铁的施加磁场和检测值的相关函数中的来自所述磁铁的施加磁场为0时的检测值设为第二偏移值,

所述多个磁传感器包含以相互相反的极性检测来自所述磁铁的施加磁场的一组磁传感器,该一组磁传感器中的一者是从所述第二偏移值减去所述第一偏移值的值为正的第一磁传感器,另一者是从所述第二偏移值减去所述第一偏移值的值为负的第二磁传感器。

2.根据权利要求1所述的位移检测装置,其中,

所述多个磁传感器排列为直线状。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的位移检测装置,其中,

还具备可动构件,

所述磁铁设置在所述可动构件。

4.根据权利要求1至权利要求3中的任一项所述的位移检测装置,其中,

在所述第一方向上,所述第一磁传感器和所述第二磁传感器交替地配置。

5.根据权利要求1至权利要求4中的任一项所述的位移检测装置,其中,

还具备:控制部,根据所述一组磁传感器的检测结果来检测所述第一方向上的所述磁铁的位移。

6.根据权利要求1至权利要求5中的任一项所述的位移检测装置,其中,

各所述检测值是所述磁传感器输出的电压值。

7.根据权利要求1至权利要求6中的任一项所述的位移检测装置,其中,

在所述磁传感器中所述施加磁场为0时,所述磁传感器和所述磁铁的所述第一方向上的位置大致相同。

8.根据权利要求1至权利要求7中的任一项所述的位移检测装置,其中,

所述磁铁位于所述第一方向上的所述一组磁传感器之间的位置。

9.根据权利要求1至权利要求8中的任一项所述的位移检测装置,其中,

所述磁铁追随液体的液面进行升降,所述液面位于所述第一方向上的所述一组磁传感器之间的位置。

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