[发明专利]非破坏检查方法在审
| 申请号： | 201880060661.X | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN111108370A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 今田昌宏;波多野卓史;关根孝二郎;土田匡章;八木司 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041;G01J5/48;G01N3/40;G01N27/83;H01M10/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李洋;杨林森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 破坏 检查 方法 | ||
1.一种非破坏检查方法，其中，
在使用种类不同的多个非破坏检查单元来检查检查对象时，
在检查对象上固定地形成利用上述多个非破坏检查单元中的任何一个非破坏检查单元都能够检测的共用的标记之后，
通过上述多个非破坏检查单元的每一个非破坏检查单元检测包含上述标记的检查对象，
以上述标记为位置基准，彼此对照上述多个非破坏检查单元的检测结果。
2.根据权利要求1所述的非破坏检查方法，其中，
在基于上述多个非破坏检查单元中的一个非破坏检查单元的检测结果确定出特殊位置之后，通过其它的非破坏检查单元集中地检测该特殊位置。
3.根据权利要求1或2所述的非破坏检查方法，其中，
在上述标记记录有位置基准以外的信息，从上述非破坏检查单元的检测结果读取该信息。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的非破坏检查方法，其中，
在上述种类不同的多个非破坏检查单元中，包含X射线拍摄单元、磁场分布测定单元、热成像拍摄单元以及硬度测定单元中的任意的2个以上。
5.根据权利要求4所述的非破坏检查方法，其中，
在上述种类不同的多个非破坏检查单元中，包含作为上述X射线拍摄单元的X射线塔尔博特拍摄装置。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的非破坏检查方法，其中，
在上述种类不同的多个非破坏检查单元中，包含上述磁场分布测定单元，
在构成上述标记的原材料中，包含有磁性体。
7.根据权利要求1～5中任一项所述的非破坏检查方法，其中，
在上述种类不同的多个非破坏检查单元中，包含上述X射线拍摄单元以及上述磁场分布测定单元，
在构成上述标记的原材料中，包含有X射线透过性较低的物质以及磁性体。
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