[发明专利]光反射率低的涂漆有效
申请号: | 201880065058.0 | 申请日: | 2018-10-08 |
公开(公告)号: | CN111225749B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 本·波尔·詹森;费奥纳-梅雷亚德·麦克纳;威廉·约翰·克里斯蒂安·卢德兰 | 申请(专利权)人: | 萨里纳米系统有限公司 |
主分类号: | B05D1/02 | 分类号: | B05D1/02;C09D5/00;C09D7/40;C09D129/04;G02B5/22;F24S70/20;C09D131/04 |
代理公司: | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人: | 王晖;刘书芝 |
地址: | 英国萨*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反射率 涂漆 | ||
1.一种涂覆基材的方法,包括以下步骤:
(i)提供在溶剂中的染料和粘合剂的悬浮液,其中染料与粘合剂的比例大于40 wt%并且所述染料均匀分散在所述溶剂中;
(ii)将所述悬浮液喷涂到所述基材上,其中大部分所述溶剂在所述喷涂步骤中蒸发,以在所述基材上产生染料和粘合剂的多孔涂层;以及
(iii)继续步骤(ii),直至涂层厚度为至少30微米;
其中,所述染料不包括任何碳纳米管,
其特征在于,所述基材上的所述染料和粘合剂的涂层具有最高达0.75gcm-3的密度,以产生充当光学陷阱以抑制光反射的孔或空腔。
2.如权利要求1所述的方法,其中步骤(ii)中涂覆到所述基材上的所述悬浮液的流速为0.05 g/s至2 g/s每cm-2。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述染料是基于炭黑的染料。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述粘合剂是聚乙酸乙烯酯,或乙酸乙烯酯、新癸酸乙烯酯和(甲基)丙烯酸酯的混合物,或者所述粘合剂是丙烯酸类的。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述溶剂是乙酸乙酯、丙酮、乙酸丙酯、乙酸丁酯、甲基乙基酮、乙基异丙基酮、环戊酮、2-己酮、甲醇、乙醇或二甲基甲醇。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述溶剂与粘合剂的比例为2:1至14:1。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述溶剂与粘合剂的比例为8:1至14:1。
8.如权利要求1所述的方法,其中控制步骤(ii)中溶剂的蒸发,使得产生的涂层具有尺寸在100nm至700nm范围内的空腔。
9.如权利要求1所述的方法,其中所述染料为颗粒形式。
10.如权利要求9所述的方法,其中所述染料颗粒的平均尺寸为50nm至10µm。
11.如权利要求1所述的方法,其中步骤(i)中所述染料与粘合剂的比例大于120 wt%。
12.如权利要求1所述的方法,其中所述溶剂具有的沸点低于120℃。
13.如权利要求1所述的方法,包括以下附加步骤:
(iv)等离子体蚀刻步骤(iii)的所述涂层,以从所述涂层结构中选择性地除去粘合剂,从而产生额外的光捕获空腔,并使更多的吸收性染料暴露于入射光子。
14.如权利要求13所述的方法,其中所述等离子体蚀刻以0.05Wcm-2至0.3Wcm-2的功率密度进行。
15.如权利要求14所述的方法,其中所述功率密度为约0.1 Wcm-2。
16.如权利要求13所述的方法,其中所述等离子体蚀刻进行60至1200秒的时间。
17.如权利要求13所述的方法,其中所述等离子体蚀刻在0.1至2托的压力下进行。
18.如权利要求13所述的方法,其中步骤(iv)在氧气、O2和N2的混合物、或O2和He的混合物的存在下进行。
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