[发明专利]雷达天线装置以及方位测定方法在审

专利信息
申请号: 201880072817.6 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN111344590A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 重冨索 申请(专利权)人: 古野电气株式会社
主分类号: G01S7/03 分类号: G01S7/03;H01Q1/34;H01Q1/42
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 日本兵库县*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 雷达 天线 装置 以及 方位 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种雷达天线装置,其特征在于包括:

筐体;

天线部,在所述筐体的内部,一边旋转一边收发电波;以及

磁式方位测定部,收容在所述筐体中,利用磁来测定方位。

2.根据权利要求1所述的雷达天线装置,其特征在于,

包括天线角度检测部,检测所述天线部的旋转角度,

所述磁式方位测定部包括:

磁检测部,检测磁;

方位计算部,进行第一计算处理,所述第一计算处理是根据所述旋转角度、及来自所述磁检测部的磁检测值来计算所述方位。

3.根据权利要求2所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述磁式方位测定部还包括存储部,所述存储部将所述旋转角度与所述磁检测值建立对应来存储。

4.根据权利要求3所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述磁式方位测定部包括校正值生成部,生成用于校正所述磁检测部的检测结果的磁校正值,

所述磁校正值根据已存储在所述存储部中的所述磁检测值之中,所述天线部进行旋转的至少一圈的磁检测值来求出。

5.根据权利要求4所述的雷达天线装置,其特征在于,

在所述天线部的各规定旋转角度求出所述磁校正值,

所述存储部将所述磁校正值与所述旋转角度建立对应来存储。

6.根据权利要求4或5所述的雷达天线装置,其特征在于,

使用所述磁校正值,校正所述磁检测值来计算所述方位。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述磁校正值是存储在所述存储部中的磁检测值、与横跨所述天线部的旋转的至少一圈将所述磁检测值加以平均所得的值的差。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述校正值生成部在求出校正所述磁检测部的检测结果的磁校正值与所述旋转角度的关系之前,对存储在所述存储部中的磁检测值进行滤波处理。

9.根据权利要求8所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述滤波处理是计算多个所述磁检测值的平均的处理。

10.根据权利要求4至9中任一项所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述存储部能够更新地存储所述磁检测值及所述磁校正值。

11.根据权利要求2至10中任一项所述的雷达天线装置,其特征在于包括:

角速度检测部,测定所述雷达天线装置的方位变化的角速度;以及

测定控制部,控制利用所述磁式方位测定部的所述方位的测定;

所述测定控制部在由所述角速度检测部所检测到的角速度为规定阈值以上的情况下,使所述方位计算部的所述第一计算处理停止。

12.根据权利要求11所述的雷达天线装置,其特征在于,

所述方位计算部在所述第一计算处理停止时,进行第二计算处理,所述第二计算处理根据在某一时间点获得的所述方位、及由所述角速度检测部所检测到的所述角速度来计算所述方位。

13.根据权利要求2至10中任一项所述的雷达天线装置,其特征在于包括:

角速度检测部,测定所述雷达天线装置的方位变化的角速度;以及

测定控制部,控制利用所述磁式方位测定部的所述方位的测定;

所述方位计算部进行所述第一计算处理,

或进行第二计算处理,所述第二计算处理根据在某一时间点获得的所述方位、及由所述角速度检测部所检测到的所述角速度来计算所述方位,

使所述天线部间歇性地旋转,

在所述天线部的旋转停止的情况下,所述方位计算部进行所述第二计算处理,

在所述天线部旋转的情况下,所述方位计算部进行所述第一计算处理。

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