[发明专利]圆柱形测量销直径的测量方法和装置

权利要求书

1.一种用于测量相应圆柱形测量销(1A-1E)的相应直径(2A-2E)的方法，所述相应圆柱形测量销包括相应中心轴线(3A-3E)和相应圆柱形外表面(4A-4E)，所述方法包括以下步骤：

·设置二维跟踪装置(10)，所述二维跟踪装置包括：

-装置框架(11)，

-同时保持结构(12)，连接至所述装置框架，并且包括配置成用于实现同时保持条件的相应夹持器(14A-14E)，在所述同时保持条件中，所述相应夹持器同时夹紧到所述相应圆柱形测量销上，从而相对于所述装置框架将所述相应圆柱形测量销保持在相应固定位置，同时所述相应圆柱形测量销彼此并排，并且所述相应圆柱形测量销各自的中心轴线彼此平行，

-跟踪结构(15)，连接至所述装置框架，并且包括第一跟踪点(21)和第二跟踪点(22)，

-驱动结构(16A-16B)，其配置成用于实现在所述同时保持条件下，所述第一跟踪点通过在第一平面中抵靠所述相应圆柱形测量销的所述相应圆柱形外表面的相应第一圆形部分，并沿着所述相应第一圆形部分跟踪来执行第一联合跟踪操作，其中所述第一平面垂直于所述中心轴线，并且所述驱动结构配置成用于实现在所述同时保持条件下，所述第二跟踪点通过在第二平面中抵靠所述相应圆柱形测量销的所述相应圆柱形外表面的相应第二圆形部分，并沿着所述相应第二圆形部分跟踪来执行第二联合跟踪操作，其中所述第二平面垂直于所述中心轴线，其中，如相对于所述相应中心轴线观察，所述相应第一圆形部分的至少相应的第一部分在直径上与所述相应第二圆形部分的至少相应的第二部分相对，

-检测结构(17A-17C)，配置用于检测所述第一跟踪点(21)相对于所述装置框架(11)的第一相对位置，并且配置用于检测所述第二跟踪点(22)相对于所述装置框架(11)的第二相对位置，

-处理器(18)，配置用于基于在所述第一联合跟踪操作期间对所述第一跟踪点的所述第一相对位置的所述检测，并且基于在所述第二联合跟踪操作期间对所述第二跟踪点的所述第二相对位置的所述检测，确定所述相应直径的相应测量值，

·实现所述同时保持条件，

·执行所述第一联合跟踪操作，

·执行所述第二联合跟踪操作，

·通过所述处理器确定所述相应直径的所述相应测量值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述同时保持结构(12)是所述二维跟踪装置(10)的可更换模块，其中，所述同时保持结构能够从所述装置框架(11)拆卸，并且能够通过所述二维跟踪装置的使用者附接至所述装置框架(11)。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述同时保持结构(12)配置为使得：

-当所述同时保持结构从所述装置框架(11)拆卸时，所述使用者能够将所述相应圆柱形测量销(1A-1E)安装至所述同时保持结构，以及

-当所述使用者随后将所述同时保持结构与安装到其上的所述相应圆柱形测量销(1A-1E)一起附接至所述装置框架(11)时，自动实现所述同时保持条件。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述同时保持结构(12)相对于所述装置框架(11)的位置在所述二维跟踪装置(10)的轴向方向上能够调节，其中，所述轴向方向限定为平行于所述中心轴线(3A-3E)，如在所述同时保持条件中所看到的。