[发明专利]圆柱形测量销直径的测量方法和装置

说明书

本发明提供了一种方案，根据该方案,能够在使用可负担得起的，非复杂的且通用的测量装置的同时，快速且准确地测量多个圆柱形测量销(1A‑1E)的直径。简而言之，本发明的关键特征通过使用具有同时保持结构(12)的二维跟踪装置(10)形成，同时保持结构(12)用于相对于装置框架(11)同时将测量销保持在固定位置，同时测量销彼此并排，并且测量销的中心轴线彼此平行，并且通过抵靠和沿着测量销的圆柱形外表面的第一圆形部分和第二圆形部分的径向相对的第一部分和第二部分跟踪来执行第一联合跟踪操作和第二联合跟踪操作，由此确定直径的测量值。

技术领域

本发明涉及一种用于测量相应圆柱形测量销的相应直径的方法和装置。

背景技术

圆柱形测量销是具有例如±1μm的公差的高精度测试量规。圆柱形测量销使用简单，并且非常适于测量制造中的工件上的测试，例如用于测试钻孔。图1示出了具有直径2A、中心轴线3A和圆柱形外表面4A的这种圆柱形测量销1A的示例。

通常，圆柱形测量销在存储箱中是可用的。这种存储箱通常容纳一大组许多圆柱形测量销，所有这些测量销都具有在一定直径范围内的不同直径。例如，储存箱可容纳100个圆柱形测量销，其直径从10.00mm的最大直径到5.05mm的最小直径以0.05mm的步长彼此不同。图2示出了具有不同直径2A-2E、中心轴线3A-3E和圆柱形外表面4A-4E的五个这样的圆柱形测量销1A-1E的示例。

每当必须对这样的一组圆柱形测量销进行一次校准时，该组的所有圆柱形测量销的直径必须进行精确地测量。优选地，这通过使用可负担得起的、非复杂的和普遍适用的测量装置来实现。

如图3所示，已知通过在通用单轴长度测量机100中使用两点测量来测量这种圆柱形测量销的直径。在图3中，测量技术人员手动地将图1的圆柱形测量销1A放置在机器100的测量点101和102之间。在其右侧，测量销1A由固定测量点101接触。在测量力103的作用下，测量销1A在其左侧由可移动测量点102接触。可移动测量点102的位置由具有线性引导105的线性测量系统104测量。测量销1A的测量直径2A被确定为测量点101和102之间的距离。测量的直径2A显示在机器100的显示器106上。

这种基于通用单轴长度测量机100的已知测量方法具有一些缺点。一个缺点是通用单轴长度测量机的精度高度依赖于测量技术人员的技能和熟练程度。另外，测量一个测量销的直径通常需要几分钟(例如，五分钟)。这意味着测量一组例如100个测量销的直径可能需要多个小时。另一缺点是直径的测量只在测量销外表面上的一对相互相对的位置进行。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种方案，根据该方案，对于大组的圆柱形测量销，可以更快和更精确地测量测量销的直径，同时仍然使用可负担得起的、非复杂的和普遍适用的测量装置。

为此，本发明提供了根据所附独立权利要求1的方法以及根据所附独立权利要求5的装置。本发明的优选实施方式由附加的从属权利要求2-4和6-8提供。

因此，本发明提供了一种用于测量相应的圆柱形测量销的相应直径的方法，所述相应的圆柱形测量销包括相应的中心轴线和相应的圆柱形外表面，所述方法包括以下步骤：

·设置二维跟踪装置，该二维跟踪装置包括：

-装置框架，

-同时保持结构，连接至所述装置框架，并且包括配置成用于实现同时保持条件的相应夹持器，在所述同时保持条件中，所述相应夹持器同时夹紧到所述相应圆柱形测量销上，从而相对于所述装置框架将所述相应圆柱形测量销保持在相应固定位置，同时所述相应圆柱形测量销彼此并排，并且所述相应圆柱形测量销各自的中心轴线彼此平行，

跟踪结构，连接至所述装置框架，并且包括第一跟踪点和第二跟踪点，