[发明专利]太阳能电池的制造方法在审
申请号: | 201880086006.1 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN111566825A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 三岛良太;足立大辅 | 申请(专利权)人: | 株式会社钟化 |
主分类号: | H01L31/0747 | 分类号: | H01L31/0747;H01L21/306;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 金世煜;朝鲁门 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 制造 方法 | ||
1.一种太阳能电池的制造方法,是包含晶体基板的太阳能电池的制造方法,包括:
第1工序,在所述晶体基板的一侧主面侧,形成第1导电型半导体层,
第2工序,对于所述第1导电型半导体层,依次层叠形成包含硅系薄膜材料的、第1提离层和第2提离层,
第3工序,在所述一侧主面的一部分,通过除去所述第2提离层、所述第1提离层和所述第1导电型半导体层,生成所述第1导电型半导体层的非形成区域,另一方面,在所述一侧主面的剩余部分,将所述第1导电型半导体层、所述第1提离层和所述第2提离层残留,
第4工序,对所述残留的所述第2提离层和所述非形成区域,层叠形成第2导电型半导体层,以及
第5工序,使用第1蚀刻溶液,除去所述第1提离层和所述第2提离层,并且,还除去层叠于所述第2提离层的所述第2导电型半导体层;
并且,对于所述第1蚀刻溶液,第1导电型半导体层、第1提离层和第2提离层的蚀刻速度满足以下的关系式:
第1导电型半导体层的蚀刻速度第2提离层的蚀刻速度第1提离层的蚀刻速度……[关系式1]。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池的制造方法,其中,所述第1提离层和所述第2提离层是以氧化硅为主成分的层,以550nm的波长测定的折射率满足以下的关系式:
第2提离层的折射率第1提离层的折射率……[关系式2]。
3.根据权利要求1所述的太阳能电池的制造方法,其中,所述第1提离层和所述第2提离层是以氧化硅为主成分的膜,将其主成分表示为SiOx时的x的值满足以下的关系式:
第1提离层的x第2提离层的x……[关系式3]。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的太阳能电池的制造方法,其中,
所述晶体基板具有第1纹理结构,
在形成于所述晶体基板的所述一侧主面侧的、所述第1导电型半导体层和所述第2导电型半导体层的各面,包含反映所述第1纹理结构的第2纹理结构。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的太阳能电池的制造方法,其中,所述非形成区域中,所述晶体基板的所述一侧主面的一部分露出。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的太阳能电池的制造方法,其中,
所述第3工序中,在所述第2提离层形成开口部,并且使第2蚀刻溶液通过所述开口部而附着于所述第1提离层,除去该第1提离层。
7.根据权利要求6所述的太阳能电池的制造方法,其中,所述第3工序中,除去所述第1提离层,并且,使所述第2蚀刻溶液也附着于所述第1导电型半导体层,除去该第1导电型半导体层。
8.根据权利要求6或7所述的太阳能电池的制造方法,其中,
所述第1蚀刻溶液中包含的蚀刻剂的浓度高于所述第2蚀刻溶液中包含的蚀刻剂的浓度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的