[发明专利]太阳能电池的制造方法在审

专利信息
申请号: 201880086006.1 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN111566825A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 三岛良太;足立大辅 申请(专利权)人: 株式会社钟化
主分类号: H01L31/0747 分类号: H01L31/0747;H01L21/306;H01L31/0224
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 金世煜;朝鲁门
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 太阳能电池 制造 方法
【说明书】:

本发明高效地制造背结型太阳能电池。是包含晶体基板(11)的太阳能电池(10)的制造方法,包括第1工序~第5工序,第2工序中,对于p型半导体层(13p),依次层叠形成第1提离层(LF1)和第2提离层(LF2),第4工序中,对于第3工序中残留的第2提离层(LF2)和没有p型半导体层(13p)的非形成区域,层叠形成n型半导体层(13n),第5工序中,使用第1蚀刻溶液,除去第1提离层(LF1)和第2提离层(LF2),也除去在第2提离层(LF2)层叠的n型半导体层(13n)。而且,相对于第1蚀刻溶液的、p型半导体层(13p)、第1提离层(LF1)和第2提离层(LF2)的蚀刻速度满足特定的关系式。

技术领域

本发明涉及太阳能电池的制造方法。

背景技术

一般的太阳能电池是在半导体基板的两主面(受光面·背面)配置电极的两面电极型,但最近作为没有因电极导致的屏蔽损失的太阳能电池,开发有仅在背面配置有电极的背结(背面电极)型太阳能电池。

背结型太阳能电池需要以高精度在背面形成p型半导体层和n型半导体层等半导体层图案,与两面电极型太阳能电池相比制造方法较为复杂。如专利文献1所示,作为用于使制造方法简化的技术,可举出基于提离法的半导体层图案的形成技术。

即,在开发将氧化硅(SiOx)或碳化硅用作提离层(也称为掩模层或替换层),通过除去该提离层而除去在其上形成的半导体层,形成半导体层图案的图案的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2013-120863号公报。

发明内容

然而,目前的课题是为了利用提离法形成高精度的半导体层图案,在除去提离层前需要对提离层本身实施图案等,所以生产率自然不高。

本发明是为了解决上述课题而完成的。因此,以高效地制造背结型太阳能电池作为课题。

本发明的包含晶体基板的太阳能电池的制造方法中,包括如下工序:

第1工序,在所述晶体基板的一侧主面侧,形成第1导电型半导体层,

第2工序,对于所述第1导电型半导体层,依次层叠形成包含硅系薄膜材料的、第1提离层和第2提离层,

第3工序,在所述一侧主面的一部分,通过除去所述第2提离层、所述第1提离层和所述第1导电型半导体层,生成所述第1导电型半导体层的非形成区域,另一方面,在所述一侧主面的剩余部分,使所述第1导电型半导体层、所述第1提离层和所述第2提离层残留,

第4工序,对所述残留的所述第2提离层和所述非形成区域,层叠形成第2导电型半导体层,以及

第5工序,使用第1蚀刻溶液,除去所述第1提离层和所述第2提离层,并且,还除去层叠于所述第2提离层的所述第2导电型半导体层;

并且,对于所述第1蚀刻溶液,第1导电型半导体层、第1提离层和第2提离层的蚀刻速度满足以下的关系式:

第1导电型半导体层的蚀刻速度第2提离层的蚀刻速度第1提离层的蚀刻速度……[关系式1]。

根据本发明,可高效率地制造背结型太阳能电池。

附图说明

图1A是表示太阳能电池的制造方法的截面图。

图1B是表示太阳能电池的制造方法的截面图。

图1C是表示太阳能电池的制造方法的截面图。

图1D是表示太阳能电池的制造方法的截面图。

图1E是表示太阳能电池的制造方法的截面图。

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