[发明专利]检查装置、PTP包装机以及检查装置的校正方法有效
申请号: | 201880087558.4 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN111630369B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 田口幸弘 | 申请(专利权)人: | CKD株式会社 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;B65B57/10;G01N21/359;G01N21/85 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 刘卓然 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 装置 ptp 装机 以及 校正 方法 | ||
1.一种检查装置,该检查装置包括:
照射机构,该照射机构能对PTP片中所填充的内容物照射近红外光;
分光机构,该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光;
摄像机构,该摄像机构具有将多个感光元件呈行列状而设置的摄像元件,该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光所相关的分光光谱进行摄像,
该检查装置根据通过上述摄像机构获得的分光图像数据,利用分光分析进行规定的检查;
其特征在于,该检查装置包括:
波长灵敏度特性把握机构,该波长灵敏度特性把握机构针对下述的像素行和/或像素列分别采用属于该像素行或该像素列的像素的亮度值,进行规定的运算处理,求出各像素行中的每个的特性,由此把握从上述照射机构照射的近红外光的条件下的上述摄像元件的波长灵敏度特性,该像素行指通过上述摄像机构对规定的基准内容物的分光光谱进行摄像而获得的基准分光图像数据中的与上述分光光谱的波长分散方向相正交的各像素行,该像素列指与上述波长分散方向平行的各像素列;
补偿值计算机构,该补偿值计算机构根据上述基准分光图像数据的各像素的亮度值、以及该像素所属的像素行所相关的上述特性,计算与上述基准分光图像数据的各像素相对应的各自坐标位置所相关的补偿值;
图像补偿机构,该图像补偿机构根据与该像素相对应的坐标位置所相关的上述补偿值,对通过上述摄像机构对规定的检查内容物进行摄像而获得的检查分光图像数据的各像素的亮度值进行补偿;
光谱数据获得机构,该光谱数据获得机构能根据对上述检查分光图像数据进行补偿而得到的补偿分光图像数据获得光谱数据;
分析机构,该分析机构根据该光谱数据,针对上述检查内容物进行规定的分析处理。
2.一种检查装置,该检查装置包括:
照射机构,该照射机构能对PTP片中所填充的内容物照射近红外光;
分光机构,该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光;
摄像机构,该摄像机构具有将多个感光元件呈行列状而设置的摄像元件,该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光所相关的分光光谱进行摄像;
该检查装置根据通过上述摄像机构获得的分光图像数据,利用分光分析进行规定的检查;
其特征在于,该检查装置包括:
波长灵敏度特性把握机构,该波长灵敏度特性把握机构针对下述各像素行和/或各像素列分别采用属于该像素行或像素列的像素的亮度值,进行规定的运算处理,求出各像素行中的每行的特性,由此把握从上述照射机构照射的近红外光的条件下的上述摄像元件的波长灵敏度特性,该各像素行指通过上述摄像机构对规定的基准内容物的分光光谱进行摄像而获得的基准分光图像数据中的与上述分光光谱的波长分散方向相正交的各像素行,该像素列指与上述波长分散方向平行的各像素列;
摄像区域亮度特性把握机构,该摄像区域亮度特性把握机构针对上述基准分光图像数据中的与上述波长分散方向平行的各像素列和/或与上述波长分散方向相正交的各像素行分别采用属于该像素列或该像素行的像素的亮度值,进行规定的运算处理,求出各像素列的每列的特性,把握从上述照射机构照射的近红外光的条件下的摄像区域的亮度特性;
补偿值计算机构,该补偿值计算机构根据上述基准分光图像数据的各像素的亮度值、以及该像素所属的像素行所相关的上述特性与该像素所属的像素列所相关的上述特性,计算与上述基准分光图像数据的各像素相对应的各自坐标位置所相关的补偿值;
图像补偿机构,该图像补偿机构根据与像素相对应的坐标位置所相关的上述补偿值,对通过上述摄像机构对规定的检查内容物进行摄像而获得的检查分光图像数据的各像素的亮度值进行补偿;
光谱数据获得机构,该光谱数据获得机构能根据对上述检查分光图像数据进行补偿而得到的补偿分光图像数据,获得光谱数据;
分析机构,该分析机构根据该光谱数据,针对上述检查内容物进行规定的分析处理。
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