[发明专利]检查装置、PTP包装机以及检查装置的校正方法

说明书

提供一种检查装置、PTP包装机和检查装置的校正方法，可谋求利用分光分析的检查所相关的检查精度的提高。检查装置(22)包括：照明装置(52)，其可对片剂(5)照射近红外光；摄像装置(53)，其可对从片剂(5)反射的反射光进行分光，对其进行摄像，其中，根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据进行分析处理。检查装置(22)对基准分光图像数据进行规定的运算处理，该基准分光图像数据是事先对规定的基准板所相关的分光光谱进行摄像而获得的，通过求出各像素行的每个的特性，把握摄像元件的波长灵敏度特性。接着，据此计算基准分光图像数据的与各像素相对应的补偿值。在检查时，根据与该像素相对应的补偿值，对针对检查对象物摄像所获得的检查分光图像数据的各像素的亮度值进行补偿处理。

技术领域

本发明涉及检查装置以及具有该检查装置的PTP包装机以及检查装置的校正方法，用于利用分光分析进行异常品种的混入检查等。

背景技术

一般，PTP片由容器膜和罩面膜构成，在该容器膜中，形成填充片剂等的对象物的袋部，该罩面膜按照将袋部的开口侧密封的方式安装于该容器膜上。

在制造PTP片时，进行检查异常品种的混入的异常品种混入检查等。作为该检查的方式，在过去，人们知道利用分光分析的方法。

在该方式中，比如，像图22所示的那样，在PTP片的制造过程中，从卤素灯等的光源，对填充于容器膜81的袋部82中的对象物83照射近红外光L₁。在这里，从对象物83等而反射的反射光L₂通过光学透镜85而汇聚，形成平行光L₃。其中，通过狭缝86的光为带状的狭缝光L₄，射入作为分光机构的分光器(棱镜)87中。

射入分光器87中的狭缝光L₄分成各波长成分的光，作为分光光谱(分光光谱像)L₅而投射于摄像元件88的感光面89上。比如，1300nm～2000nm的波长频带的近红外光以1nm～10nm的间隔的波长分辨率，分成数十～数百频带。

在这里，分光光谱L₅的各波长成分因其波长成分的不同，投射于摄像元件88的感光面89上的不同的位置。另外，可通过对以对该分光光谱L₅的进行摄像而获得的光谱数据的主成分进行分析，检测异常品种的混入。

近年，为了检查的高速化以及生产性降低的抑制，人们提出有下述的检查装置，该检查装置可采用CCD区域传感器等的摄像元件，可同时地检查对象物，该对象物分别填充于在所运送的容器膜的宽度方向按照一列并列的多个袋部中(比如，参照专利文献1)。

由于CCD区域传感器等的摄像元件由呈行列状而排列的多个感光元件构成，故必须要求对基于各自的感光元件的特性的灵敏度的参差不齐进行补偿处理。

在过去，作为对感光元件的灵敏度的参差不齐进行补偿的方法，人们知道有下述的方法等(比如，参照专利文献2的现有技术)，其中，将下述亮度值除以全部像素的平均亮度值，该亮度值指比如，对照射强度均匀的光(均匀光)的基准板进行摄像而获得的图像数据的各像素的亮度值，形成与该像素相对应的坐标位置的灵敏度值，那么，在检查时，将已获得的检查图像数据的各像素的亮度值除以该像素的灵敏度值，进行补偿处理。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：WO2013－002291号公报

专利文献2：JP特开平4－32729号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，由于从卤素灯等的光源射出的近红外光中包含的各波长成分的强度不均匀，故在对分光光谱进行摄像的场合，伴随各波长成分，摄像元件的灵敏度大大地改变。