[发明专利]磁性体检查装置在审

专利信息
申请号: 201880088478.0 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN111684276A 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 饭岛健二 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82;B66B5/00;B66B5/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁性 体检 装置
【权利要求书】:

1.一种磁性体检查装置,通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态,所述磁性体检查装置具备:

对各所述磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈;

励磁部,针对多个所述磁性体设置1个所述励磁部;以及

探测信号输出部,其将基于各所述磁性体的磁场的探测信号分别输出。

2.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

多个所述探测线圈被设置为分别围绕各所述磁性体的周围,

针对多个所述磁性体设置有1个所述励磁部。

3.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

所述励磁部构成为包围多个所述探测线圈。

4.根据权利要求3所述的磁性体检查装置,其特征在于,

所述探测线圈包含1对差动线圈,

所述励磁部构成为包围多组所述差动线圈。

5.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

所述磁性体由长条材料形成,

多个所述探测线圈被配置为:在多个所述长条材料延伸的方向上,至少相邻的所述探测线圈之间的位置相互错开,

所述励磁部构成为包围错开位置地配置的多个所述探测线圈。

6.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

还具备磁场施加部,所述磁场施加部对所述磁性体施加磁场,来对所述磁性体施加规定方向的磁场,

多个所述探测线圈构成为探测被所述磁场施加部预先施加了磁场的所述磁性体的磁场的变化。

7.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

还具备判定部,所述判定部基于由所述探测信号输出部输出的多个所述探测信号来进行各所述磁性体的状态的判定,

所述判定部构成为:在由所述探测信号输出部输出的各所述探测信号超过了规定的阈值的情况下,按每个所述磁性体向外部输出表示各所述探测信号超过了所述规定的阈值的阈值信号。

8.根据权利要求1所述的磁性体检查装置,其特征在于,

所述励磁部包含被设置为以包围多个所述探测线圈的方式缠绕的励磁线圈,

所述励磁线圈构成为沿所述磁性体延伸的方向施加磁场,

多个所述探测线圈构成为分别探测通过由所述励磁线圈施加磁场而产生的各所述磁性体的磁场的变化。

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