[发明专利]磁性体检查装置

说明书

该磁性体检查装置(100)通过对磁性体(W)内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体(W)的状态，该磁性体检查装置具备：探测各磁性体(W)的磁场的多个探测线圈(10)；励磁部(11)，针对多个磁性体(W)设置1个该励磁部(11)；以及探测信号输出部(12)，其将基于各磁性体(W)的磁场的探测信号分别输出。

技术领域

本发明涉及一种磁性体检查装置，特别是涉及一种对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。

背景技术

以往，已知对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。这种磁性体检查装置例如在日本特开2005-89172号公报中有所公开。

在日本特开2005-89172号公报中，公开了如下一种磁性体检查装置：该磁性体检查装置具备用于对多条线缆中的各线缆进行引导的多条引导路径，在各引导路径的下侧具备磁化检测部，该磁化检测部具有探测线圈和包含永磁体的励磁部。日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置构成为通过漏磁通法来检查线缆的状态，该漏磁通法为：通过永磁体来使线缆磁化，通过探测线圈来检测从线缆的表面泄漏的磁场。此外，日本特开2005-89172号公报所公开的探测线圈被形成为沿着引导路径的形状的凹曲面形状。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-89172号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置所进行的漏磁通法通过探测线圈来检测从被磁化的线缆的表面漏出的磁场，因此难以准确地探测线缆的内部的损伤、线缆中的不面向探测线圈的部分的损伤。因而，存在难以高精度地检查多个线缆这样的问题。另外，日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置构成为针对每条引导路径设置永磁体，因此存在部件个数增加这样的问题。

本发明是为了解决如上所述的问题而完成的，本发明的1个目的在于提供一种能够抑制部件个数增加、并且能够高精度地检查多个磁性体的状态(有无损伤等)的磁性体检查装置。

用于解决问题的方案

为了实现上述目的，本发明的一个方面的磁性体检查装置通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，该磁性体检查装置具备：对各磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；励磁部，针对多个磁性体设置1个该励磁部；以及探测信号输出部，其将基于各磁性体的磁场的探测信号分别输出。

此外，在本发明中，磁性体的“损伤等”是指以下的广泛的概念：由于磁性体的错位、局部磨耗、线材断线、凹陷、腐蚀、开裂、扭曲等而产生的相对于探测方向的(包括因在磁性体内部产生了损伤等的情况下的空隙而引起的)截面积的变化；由于磁性体的锈、焊接氧化皮、杂质的混入、组成成分变化等而产生的磁导率的变化；包含磁性体不均匀的部分。另外，磁场的变化是指以下的广泛的概念：通过使磁性体与探测部相对移动而引起的由探测部探测到的磁场的强度的时间性变化；以及通过使向磁性体施加的磁场随时间变化而引起的由探测部探测到的磁场的强度的时间性变化。