[发明专利]检测装置以及控制装置有效
申请号: | 201880088664.4 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN111684398B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 阿部圭思 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯阿尔派株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044;H03K17/955 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘文海 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 以及 控制 | ||
1.一种检测装置,其特征在于,
所述检测装置具备:
上部检测电极;
下部检测电极,其重叠地设置于所述上部检测电极的下侧;
接近状态检测机构,其基于所述上部检测电极及所述下部检测电极中的一方或者双方的静电电容的变化,来对检测对象相对于检测面的接近状态进行检测;以及
切换机构,其能够将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为相互绝缘的第一状态、及相互短路的第二状态,
所述检测装置具有第一检测模式以及第二检测模式,
在所述第一检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第一状态,
所述接近状态检测机构基于所述上部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测,
在所述第二检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第二状态,
所述接近状态检测机构基于所述上部检测电极以及所述下部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
在所述第一检测模式中,在所述上部检测电极的电流值比规定的第一阈值小的情况下,所述切换机构切换为所述第二检测模式,
在所述第二检测模式中,在所述上部检测电极以及所述下部检测电极的电流值比规定的第二阈值大的情况下,所述切换机构切换为所述第一检测模式。
3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述检测装置还具备屏蔽电极,所述屏蔽电极重叠地设置于所述下部检测电极的下侧,
在所述第一检测模式中,所述切换机构通过使所述屏蔽电极与所述下部检测电极短路,从而使所述下部检测电极作为所述屏蔽电极的一部分而发挥功能。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,
在所述第一检测模式中,所述屏蔽电极由与所述上部检测电极的驱动电压同相位的驱动电压驱动。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述检测装置还具有第三检测模式,
在所述第三检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第一状态,
所述接近状态检测机构基于所述上部检测电极的静电电容的变化、以及所述下部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测。
6.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述检测装置还具有第四检测模式,
在所述第四检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第一状态,
所述接近状态检测机构基于所述下部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测。
7.一种控制装置,其对检测部进行控制,所述检测部具有上部检测电极、以及在所述上部检测电极的下侧重叠地设置的下部检测电极,
所述控制装置的特征在于,具备:
接近状态检测机构,其基于所述上部检测电极及所述下部检测电极中的一方或者双方的静电电容的变化,来对检测对象相对于检测面的接近状态进行检测;以及
切换机构,其能够将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为相互绝缘的第一状态、及相互短路的第二状态,
所述控制装置具有第一检测模式以及第二检测模式,
在所述第一检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第一状态,
所述接近状态检测机构基于所述上部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测,
在所述第二检测模式中,
所述切换机构将所述上部检测电极与所述下部检测电极切换为所述第二状态,
所述接近状态检测机构基于所述上部检测电极以及所述下部检测电极的静电电容的变化,来对所述检测对象的接近状态进行检测。
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