[发明专利]检测装置以及控制装置

说明书

在具备检测目的互不相同的多个检测电极的检测装置中，能够抑制该检测装置的尺寸的大型化，并且能够抑制检测能力的降低。检测装置具备：上部检测电极；下部检测电极，其重叠地设置于上部检测电极的下侧；接近状态检测机构，其基于上部检测电极及下部检测电极中的一方或者双方的静电电容的变化，来对检测对象相对于检测面的接近状态进行检测；以及切换机构，其能够将上部检测电极与下部检测电极切换为相互绝缘的第一状态、及相互短路的第二状态。

技术领域

本发明涉及检测装置以及控制装置。

背景技术

以往，已知有基于在检测面设置的检测电极的静电电容的变化来对检测对象相对于检测面的接近状态进行检测的检测装置。另外，在这种检测装置中，利用有在检测电极的背侧重叠设置有屏蔽电极的技术。

例如，在下述专利文献1中公开有如下技术：在显示装置中，在多个检测电极的背侧设置屏蔽电极，基于屏蔽电极的静电电容的变化，来对物体向前表面的接近或者接触进行检测，并基于多个检测电极各自的静电电容的变化，对物体的位置进行检测。

另外，在下述专利文献2中公开有如下技术：在多个驱动电极的下层具备屏蔽电极的输入装置中，对从多个驱动电极中选择出的驱动电极施加与屏蔽电极的驱动电压同相的驱动电压，对剩余的驱动电极施加与屏蔽电极的驱动电压反相的驱动电压。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2017-102811号公报

专利文献2：日本特开2015-121958号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而，在以往的检测装置中，通过在用于对检测对象相对于检测面的接触进行检测的检测电极(以下表示为“接触检测电极”)、以及用于对检测对象相对于检测面接近了的情况进行检测的检测电极(以下表示为“接近检测电极”)使用不同的检测电极，从而实现检测能力的合理化。然而，在以往的技术中，在将接触检测电极与接近检测电极设置在同一平面上互不相同的位置的情况下，检测装置的尺寸有可能大型化。另外，在以往的技术中，在将接触检测电极与接近检测电极相互重叠地设置的情况下，配置于上侧的检测电极有可能使配置于下侧的检测电极的检测能力降低。因此，谋求在具备检测目的互不相同的多个检测电极的检测装置中，能够抑制该检测装置的尺寸的大型化，并且能够抑制检测能力的降低。

用于解决课题的方案

一实施方式的检测装置具备：上部检测电极；下部检测电极，其重叠地设置于上部检测电极的下侧；接近状态检测机构，其基于上部检测电极及下部检测电极中的一方或者双方的静电电容的变化，来对检测对象相对于检测面的接近状态进行检测；以及切换机构，其能够将上部检测电极与下部检测电极切换为相互绝缘的第一状态、及相互短路的第二状态。

发明效果

根据一实施方式，在具备检测目的互不相同的多个检测电极的检测装置中，可以实现能够抑制该检测装置的尺寸的大型化，并且能够抑制检测能力的降低。

附图说明

图1是表示一实施方式的检测装置的结构的图。

图2是一实施方式的检测装置所具备的检测部的俯视图。

图3是表示一实施方式的控制电路的功能结构的框图。

图4是表示一实施方式的控制电路所具有的检测模式的图。

图5是表示由一实施方式的控制电路进行的处理的顺序的流程图。

图6是用于说明由一实施方式的控制电路进行的检测灵敏度的修正方法的图。

具体实施方式

〔一实施方式〕