[发明专利]用于在使用事件模式的情况下识别在材料加工或制造工艺过程中的事件的方法、(测量)装置及其组件

权利要求书

1.一种测量装置，该测量装置包括用于高频地检测测量参量、例如声音、固体声音、电流、电压、光学测量值或磁测量值和类似物的传感器，其特征在于，所述测量装置包括按照下列权利要求之一所述的运算器网络，所述运算器网络具有按照下列权利要求之一所述的至少一个运算器。

2.一种判定运算器(6)，该判定运算器用于判定构件在材料加工工艺过程和/或材料制造工艺过程中是OK的还是非OK的或判定加工设备和/或制造设备是OK的还是非OK的，所述判定运算器具有用于干扰模式识别运算器(7)的输入端、用于事件模式识别运算器(8)的输入端和/或用于自由模式运算器(9)的输入端，所述判定运算器具有用于能对输入数据进行参数化关联和/或编程关联的内部逻辑和内部参数，并且所述判定运算器具有用于OK信号或非OK信号的输出端。

3.按照权利要求2所述的判定运算器，其特征在于，所述判定运算器包括多维的、尤其是二维或三维的判定场。

4.按照权利要求3所述的判定运算器，其特征在于，所述判定运算器包括三个判定场，所述三个判定场分别具有至少一个在时间上可变的边界线(26、26‘、26“、30、31、33、34)。

5.一种模式识别运算器，该模式识别运算器具有用于数据流的输入端和用于数据流和/或值的输出端，所述值对应于与模式数据库的多个模式中的一个模式的一致程度。

6.按照权利要求5所述的模式识别运算器，其特征在于，所述模式识别运算器识别事件模式(8)和/或干扰模式(7)。

7.按照权利要求5或6所述的模式识别运算器，其特征在于，所述模式识别运算器具有二维、三维或更多维的特性曲线，所述特性曲线具有一个或多个配属区域(32)。

8.一种运算器网络(5)，该运算器网络包括一个、两个或更多模式识别运算器(7、8)、可选地包括自由模式运算器(9)并且包括至少一个按照上述权利要求之一所述的判定运算器(6)。

9.按照权利要求8所述的运算器网络，其特征在于，所述运算器网络包括通知运算器、机器控制运算器和/或差运算器(35)。

10.按照上述权利要求之一所述的运算器网络，其特征在于，多个运算器、尤其是多个模式运算器并联或串联地设置。

11.一种移动式的、尤其是电力自主的装置、尤其是传感器或显示模块，其特征在于，所述装置设计为具有输入数据流和/或输出数据流的运算器，所述运算器用于嵌入到按照权利要求之一所述的运算器网络或测量装置中。

12.一种用于基于在工艺过程期间获得的具有时间分辨的频率信息和能量信息的多维数据流在使用干扰模式和/或事件模式和/或能量数据的情况下识别在材料加工工艺过程和/或材料制造工艺过程中的事件的方法或装置，其特征在于，所述数据经过一个模式运算器或多个并联或依次设置的模式运算器并且被输送给按照上述权利要求之一所述的一个判定运算器(6)或多个并联或依次设置的判定运算器(6)。

13.一种用于构建和/或编辑按照上述权利要求之一所述的运算器网络的图形用户界面，和/或一种包括所述图形用户界面的测量装置，其特征在于预定的按照上述权利要求之一所述的运算器的图形化的可定位性和可关联性。

14.一种用于实施按照上述权利要求之一所述的方法的装置，所述装置包括按照上述权利要求之一所述的运算器网络和/或包括用于构建和/或编辑按照上述权利要求之一所述的运算器网络的图形用户界面。