[发明专利]异常探测装置、异常探测方法以及计算机可读取的存储介质有效
申请号: | 201880094472.4 | 申请日: | 2018-06-14 |
公开(公告)号: | CN112272763B | 公开(公告)日: | 2023-05-19 |
发明(设计)人: | 竹内智晴 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00;G05B23/02 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 异常 探测 装置 方法 以及 计算机 读取 存储 介质 | ||
本发明提供一种异常探测装置、异常探测方法以及计算机可读取的存储介质。偏移倾向计算部(22)通过确定对象数据中的与其它数据偏移的数据、并计算表示确定出的数据的偏移程度的偏移得分的多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法,将从对象设备得到的评价数据作为输入来计算偏移得分,根据计算出的偏移得分来计算偏移倾向信息。异常探测部(23)针对每个异常模式,计算偏移灵敏度信息和计算出的偏移倾向信息的类似度,探测对象设备的异常,所述偏移灵敏度信息表示关于多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法的针对多个异常模式的各个异常模式的灵敏度。
技术领域
本发明涉及根据从对象设备得到的数据探测对象设备的异常的技术。
背景技术
在预防性维护以及设备维护的领域中,为了将维护实施以及备件管理不浪费地降至所需最小限而进行探测或者预测设备的劣化以及故障的迹象的技术开发。在关注传感器网络以及大数据解析的过程中,对设备工作状况进行感测,根据物理的解析或者统计预测进行异常探测或者故障预测的技术正被开发。
针对设备的异常探测,多数情况采取如下方法:收集设备的工作数据,在掌握正常时以及异常时的数据的特征的基础上,构筑异常探测模型。
关于专利文献1记载的方法,在工厂的过程监视中,使用多个异常诊断模型来进行异常的探测以及主要原因的提示。在专利文献1中,事先构筑有效利用主成分分析或者离散小波变换的异常诊断模型,将异常诊断模型应用于过程监视中的在线异常探测。
在此,为了构筑异常诊断模型,需要解析正常时以及异常时的数据特征,掌握能够推测设备状态的统计特征量。但是,例如发电机以及升降机这样的使用寿命长的设备大部分在故障前被进行维护,所以多数情况下,制造商、维护运营商、以及设备引进者(用户)都不保有故障数据。因此,难以采用事先学习故障时的设备状态以及测量数据的变动来进行异常探测的方式。
偏移值探测技术是指,以正常以及异常的二值判定为基本,从数据整体中抽出偏移的数据的技术。在偏移值探测技术中,存在统计方法、机械学习系统方法、以及深度学习系统方法这样的各种方法。在将偏移值探测方法应用于设备的异常探测的情况下,从数个偏移值探测方法中根据设备感测数据的特征选择最佳的方法,针对逐次收集的设备的工作数据,判定正常以及异常。
关于基于偏移值探测技术的异常探测,在评价数据与正常时发生偏移的情况下,能够探测为异常。因此,只要有正常数据,就能够进行异常探测。即、即使在故障数据少或者完全不存在的情况下,也能够在理论上进行异常探测。由此,可以说是针对未知的故障的探测以及预测有效的方法。
参考文献
参考文献1:日本特开2012-155361号公报
发明内容
基于偏移值探测技术的异常探测是只要有正常数据就能够判定正常以及异常的方法。但是,关于基于偏移值探测技术的异常探测,仅通过以往的应用,无法得知比正常以及异常的二值信息更多的信息。因此、需要由工程师进行检查来对发生什么样的异常进行故障判定以及原因查明。
另外,在对象设备中发生各种异常模式。仅通过应用遵循某个算法的偏移值探测方法,有时无法探测未遵循算法的异常。偏移值探测技术的探测算法针对每个方法而不同,所以探测遗漏的异常模式也被认为针对每个方法而不同,所以难以选择最适合的方法。
本发明的目的在于能够适当地探测异常、并且易于确定发生什么样的异常。
本发明所涉及的异常探测装置具备:
偏移倾向计算部,通过确定对象数据中的与其它数据发生偏移的数据、并计算表示确定出的数据的偏移程度的偏移得分的多个偏移值探测方法的各个偏移值探测方法,将从对象设备得到的评价数据作为输入来计算偏移得分,根据计算出的所述偏移得分来计算偏移倾向信息;以及
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