[发明专利]可测试性设计的适应性微电子电路的应用

权利要求书

1.一种用于运作适应性微电子电路的方法，该适应性微电子电路的效能可藉由让运作参数假定运作参数数值而加以配置，该方法包含：

选择性设定所述微电子电路进入测试模式，所述测试模式不同于所述微电子电路的正常运作模式，

利用所述测试模式输入由测试输入数值所组成的测试输入信号进入所述微电子电路内的一个或更多个适应性处理路径，其中，适应性处理路径包含处理逻辑和缓存器电路，所述处理逻辑和所述缓存器电路被配置成从输入至所述处理逻辑和所述缓存器电路的输入数值产生输出数值，并且其中，这种适应性处理路径的效能可藉由让运作参数假定运作参数数值而加以配置，

让所述一个或更多个适应性处理路径根据输入至它们的相应测试输入数值形成测试输出数值，并且藉由收集由所述一个或更多个适应性处理路径所给定的所述测试输出数值形成一组测试输出信号，

检查所述一组测试输出信号，并且根据所述检查形成测试结果，以及

使用所述测试结果来选择和设定用于所述运作参数的运作参数数值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，被设定的所述运作参数数值被用来影响所述一个或更多个适应性处理路径的效能。

3.根据权利要求1或2所述的方法，包含藉由以下步骤特性化所述微电子电路：

连续地设定用于所述运作参数的至少第一和第二运作参数数值，

根据检查于所述运作参数具有所述第一运作参数数值时所形成的第一组测试输出信号，形成第一测试结果，

根据检查于所述运作参数具有所述第二运作参数数值时所形成的第二组测试输出信号，形成第二测试结果，以及

形成指示所述第一与第二测试结果之间的差异的特性化数值。

4.根据权利要求3所述的方法，包含藉由设定所述第一和第二运作参数数值使得所述第一运作参数数值在所述适应性处理路径的效能上具有与所述第二运作参数数值不同的效应，而特性化所述微电子电路内的适应性处理路径。

5.根据权利要求3或4所述的方法，包含根据所述特性化数值将所述微电子电路分类至效能分类。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述效能分类为下列的至少一者：

用于微电子电路的电压分类，对应的特性化数值针对所述电压分类指示用于给定时钟速度的可接受最小运作电压，

用于微电子电路的时钟速度分类，对应的特性化数值针对所述时钟速度分类指示在给定运作电压下的可接受最大时钟速度，

用于微电子电路的能量分类，对应的特性化数值针对所述能量分类指示用于最小运作电压和最大时钟速度的结合的可接受能量消耗。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中：

所述适应性缓存器电路包含缓存器输入、时钟输入、缓存器输出和时序事件输出，

所述适应性缓存器电路包含在所述缓存器输入与所述缓存器输出之间的数据储存器，用于暂时地储存在与出现在所述时钟输入处的时钟信号相关的可允许时间限制时在所述缓存器输入处出现的数据数值，

所述适应性缓存器电路包含时序事件观察阶段，其配置成在所述时序事件输出处输出时序事件观察信号，以响应在所述缓存器输入处的所述数据数值的改变，所述改变比与所述时钟信号相关的所述可允许时间限制晚发生，以及

形成一组测试输出信号的该方法步骤包含收集由所述时序事件观察阶段所给定的输出数值。

8.根据权利要求7所述的方法，包含：

冻结所述时序事件观察信号的数值比所述时钟信号中的一个时钟周期更长周期，用于之后收集所述时序事件观察信号的冻结数值，以形成所述一组测试输出信号。

9.根据权利要求7或8所述的方法，包含：

暂时地失能所述时序事件观察阶段的运作，

经由所述缓存器输入将所述测试输入数值输入至所述数据储存器，以及

收集在所述缓存器输出处所给定的所述测试输出数值；

用于独立于所述时序事件观察阶段的运作来测试所述数据储存器的运作。