[发明专利]异构成像传感器系统的多图案基准在审
申请号: | 201880099446.0 | 申请日: | 2018-11-12 |
公开(公告)号: | CN112955904A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | V·纳亚克;Y·D·唐;R·S·阿哈维恩;孟浩;B·R·荣 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G06K19/06 | 分类号: | G06K19/06;G06K9/80 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郭美琪;吕传奇 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 构成 传感器 系统 图案 基准 | ||
一种用于异构成像传感器系统的多图案基准。该多图案基准包括:可由第一电磁能量波长检测的第一图案和可由第二电磁能量波长检测的第二图案。
背景技术
三维(3D)成像允许给对象进行扫描以获得对象的图形表示,其可经由计算设备和耦合到计算设备的显示设备显示。该图形表示可以是对象的3D模型,其可以使用3D绘图程序或计算机辅助设计和制图程序来操纵。另外,基于红外的检测过程可以被用来检测和跟踪空间中的对象,以用于监视、安全方面的应用以及其他应用。
附图说明
附图图示了本文中所述原理的各种示例,并且是说明书的一部分。所图示的示例仅仅是为了说明而给出的,并不限制权利要求的范围。
图1是根据本文中所述原理的示例的用于异构成像传感器系统的多图案基准(fiducial)的框图。
图2是根据本文中所述原理的示例的异构成像传感器系统的框图。
图3是根据本文中所述原理的示例的异构成像传感器系统的框图。
图4是根据本文中所述原理的示例的异构成像传感器系统的透视图。
图5是根据本文中所述原理的示例的异构成像传感器系统的侧视图。
图6是示出了根据本文中所述原理的示例的检测对象的方法的流程图。
图7是示出了根据本文中所述原理的示例的检测对象的方法的流程图。
图8是示出了根据本文中所述原理的示例的检测对象的方法的流程图。
遍及所有附图,相同的附图标记标明相似但不一定相同的元件。附图不一定是按比例的,并且一些部分的大小可能被放大以更清楚地说明所示示例。此外,附图提供了与描述一致的示例和/或实现方式;然而,该描述不限于附图中提供的示例和/或实现方式。
具体实施方式
3D成像系统可以被用来捕获对象的3D图像,以创建用于显示和/或操纵的对象的数字3D模型。3D模型可以包括超现实纹理,该超现实纹理维持单独的漫射颜色、位移和法线贴图,这些贴图准备好用于渲染和用于例如在增强现实或虚拟现实应用中使用。在3D成像系统中,红外(IR)成像设备或传感器可以被用来捕获对象的3D图像。
如上所述,基于IR的检测和跟踪可以被用于监视、安全和其他应用。当利用IR电磁能量发射设备照射时,一些计算机视觉过程可以被用来使用反射单个特定光谱的电磁能量(诸如IR波长)的材料来识别和跟踪基准。基准的识别和跟踪可以被用于定位和分割前景对象。然而,在包括可见光的其他光谱的信息可能能够帮助这些应用的情况下,仅利用IR成像设备进行检测和跟踪可能不会生成一致的结果。
本文中所述的示例为异构成像传感器系统提供了多图案基准。该多图案基准包括:可由第一电磁能量波长检测的第一图案,和可由第二电磁能量波长检测的第二图案。第一和至少第二图案可以传达不同的信息。该多图案基准可以是基于二维(2D)的基准。该多图案基准可以是基于三维(3D)的基准。
本文中所述的示例还提供了一种异构成像传感器系统。该异构成像传感器系统包括:多图案基准,其包括可由对应数量的电磁能量波长检测的多个图案;第一成像设备,用于感测多个图案中的第一个,第一成像设备检测该数量的电磁能量波长中的第一个;以及第二成像设备,用于感测多个图案中的第二个,第二成像设备检测该数量的电磁能量波长中的第二个。
异构成像传感器系统可以包括:可由异构成像传感器系统的处理设备执行的加权模块,来对在检测多图案基准时第一成像设备的影响和第二成像设备的影响进行加权。加权可以基于信号强度、第一和第二成像设备的方位、第一和第二成像设备的角度、检测到的特征的大小、检测到的特征的量,或它们的组合。加权模块可以使用统计信号分析、用于多模式跟踪的基于概率的预测、传感器融合,或它们的组合。
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