[发明专利]用于ICPMS基质偏移校准的系统和方法

权利要求书

1.一种用于校准电感耦合等离子体(ICP)分析仪器的系统，包括：

样本分析设备，其被配置为从远程采样系统接收样本以及确定在接收的样本中的第一样本基质中的感兴趣的化学物质的浓度；以及

控制器，其可操作地耦合到所述样本分析设备并且被配置为：

基于由所述样本分析设备进行的、对在第二样本基质中的不同浓度的感兴趣的化学物质的分析，来生成主校准曲线，

基于由所述样本分析设备进行的、对在第一样本基质中的不同浓度的感兴趣的化学物质的分析，来生成次校准曲线，以及

确定用于将所述次校准曲线与所述主校准曲线相关联的基质校正因子。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述样本分析设备被设置在第一位置处以及所述远程采样系统被设置在第二位置处，所述第一位置是远离所述第二位置的。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，与所述第一样本基质相比，所述第二样本基质是对所述样本分析设备处的衰退和漂移中的至少一项做出相对更大响应的。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述控制器被配置为：基于通过所述样本分析设备进行的、对在所述第二样本基质中的不同浓度的所述感兴趣的化学物质的周期性分析，来更新所述主校准曲线。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一样本基质由从由以下各项组成的组中选择的样本基质组成：去离子水、异丙醇、氨溶液、氢氟酸、盐酸、过氧化氢、氟化铵、LAL化学品、DSP化学品和FND化学品。

6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第二样本基质由从由以下各项组成的组中选择的样本基质组成：去离子水、异丙醇、氨溶液、氢氟酸、盐酸、过氧化氢、氟化铵、LAL化学品、DSP化学品和FND化学品。

7.根据权利要求1所述的系统，其中，所述主校准曲线具有主曲线斜率，而所述次校准曲线具有次曲线斜率，并且所述基质校正因子是通过将所述次曲线斜率除以所述主曲线斜率来确定的。

8.一种校准电感耦合等离子体(ICP)分析仪器的方法，包括：

基于通过样本分析设备进行的、对具有第一样本基质的感兴趣的化学物质的第一标准溶液的分析，来生成主校准曲线；

基于通过所述样本分析设备进行的、对具有第二样本基质的所述感兴趣的化学物质的第二标准溶液的分析，来生成次校准曲线，以及

确定用于将所述次校准曲线与所述主校准曲线相关联的针对所述次校准曲线的基质校正因子。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，生成所述主校准曲线包括：基于通过所述样本分析设备进行的、对在第一样本基质中的不同浓度的所述感兴趣的化学物质的分析，来生成所述主校准曲线。

10.根据权利要求8所述的方法，其中，生成所述次校准曲线包括：基于通过所述样本分析设备进行的、对在所述第二样本基质中的不同浓度的所述感兴趣的化学物质的分析，来生成所述次校准曲线。

11.根据权利要求8所述的方法，其中，与所述第二样本基质相比，所述第一样本基质是对所述样本分析设备处的衰退和漂移中的至少一项做出相对更大响应的。

12.根据权利要求8所述的方法，还包括：基于通过所述样本分析设备进行的、对在所述第一样本基质中的不同浓度的所述感兴趣的化学物质的周期性分析，来更新所述主校准曲线。

13.根据权利要求8所述的方法，还包括：通过将所述次校准曲线的斜率除以所述主校准曲线的斜率，来确定所述基质校正因子。