[发明专利]用于ICPMS基质偏移校准的系统和方法

说明书

描述了用于校准用于分析连续的多个样本基质的分析仪器的系统和方法。系统实施例可以包括但不限于：样本分析设备，其被配置为从多个远程采样系统接收多个样本，以及确定在多个样本中的每个样本中包含的感兴趣的一个或多个物质的强度；以及控制器，其被配置为：基于通过样本分析设备进行的、对具有第一样本基质的第一标准溶液的分析，来生成主校准曲线；以及基于通过样本分析设备进行的、对具有第二样本基质的第二标准溶液的分析，来生成至少一个次校准曲线，控制器被配置为根据基质校正因子，将至少一个次校准曲线与主校准曲线进行关联。

背景技术

电感耦合等离子体(ICP)光谱法是一种常用于测定液体样本中痕量元素浓度和同位素比的分析技术。ICP光谱法采用电磁产生的部分电离的氩等离子体，其温度达到约7,000K。当样本被引入等离子体时，高温会使样本原子变为电离或发光。由于每种化学元素产生特征质量或发射光谱，因此测量发射质量或光的光谱允许确定原始样本的元素组成。

可以采用样本引入系统将液体样本引入ICP光谱仪器(例如，电感耦合等离子体质谱仪(ICP/ICP-MS)，电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)，或等)用于分析。例如，样本引入系统可从容器中取出等分试样的液体样本，然后将等分试样传输到雾化器，该雾化器将等分试样转换成适于通过ICP光谱仪器在血浆中电离的多分散气溶胶。然后将气溶胶在喷雾室中分选以移除较大的气溶胶颗粒。在离开喷雾室时，通过ICP-MS或ICP-AES仪器的等离子炬组件将气溶胶引入等离子体中用于分析。

发明内容

描述了用于在分析具有连续的多个样本基质的样本时校准电感耦合等离子体分析仪器(例如，ICP-MS、ICP-AES等)的系统和方法。系统实施例可包括但不限于样本分析设备，其被配置为从多个远程采样系统接收多个样本并确定包含在多个样本中的每个样本中的一个或多个感兴趣物质的强度；以及控制器可操作地连接到样本分析设备，控制器被配置为基于由样本分析设备对具有第一样本基质的第一标准溶液的分析来生成主校准曲线，并基于由样本分析设备对具有第二样本基质的第二标准溶液的分析来生成至少一个次校准曲线，控制器被配置为根据基质校正因子将至少一个次校准曲线与主校准曲线相关联。

提供本发明内容是为了以简化的形式介绍一些概念，这些概念将在下面的具体实施方式中进一步描述。本发明内容不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。

附图说明

参考附图描述了具体实施方式。

图1A是示出了根据本公开的示例实施例的被配置为分析通过长距离传输的样本的系统的部分线图。

图1B是示出了根据本公开的示例实施例的用于对针对连续的多个样本基质的电感耦合等离子体分析仪器进行校准的方法的流程图。

图1C是示出了根据本公开的示例实施例的示例性样本基质校准曲线的表。

图1D是示出了根据本公开的示例实施例的具有各种样本基质的各种样本的示例性浓度确定的表。

图2A是示出了根据本公开的示例实施例的远程采样系统中使用的远程采样设备的环境视图。

图2B是示出了根据本公开的示例实施例的在远程采样系统中使用的远程采样设备的环境视图。

图3A是示出了根据本公开的示例实施例的分析系统中使用的分析设备的环境视图。

图3B是示出了根据本公开的示例实施例的分析系统中使用的分析设备的环境视图。

图4是示出了根据本公开的示例实施例的系统内的分析系统的部分线图，该系统被配置为分析通过长距离传输的样本。

图5是示出了根据本公开的示例实施例的可以在图4所示的分析系统中使用的检测器的部分线图。