[发明专利]沟槽刻蚀加工工艺及二极管的生产方法在审
申请号: | 201910003957.4 | 申请日: | 2019-01-03 |
公开(公告)号: | CN109727861A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 刘云燕;李昊阳;李广德;王鹏飞;王仁东;李书涛;魏功祥 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/304;H01L21/306 |
代理公司: | 淄博启智达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 37280 | 代理人: | 袭娜;王燕 |
地址: | 255086 山东省淄*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二极管 沟槽刻蚀 开沟 混酸腐蚀 完成晶片 醋酸 二次烘干 光刻工艺 光刻设备 一次烘干 开V型槽 光刻胶 混合物 开沟机 良品率 氢氟酸 漂洗 硝酸 黄光 混酸 硫酸 生产 制备 开口 节约 能源 | ||
1.一种沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:用开沟机开沟,然后漂洗,一次烘干后再用混酸腐蚀,混酸为硝酸、氢氟酸、醋酸和硫酸的混合物,混酸腐蚀的时间为1.8-2.2分钟,水洗后二次烘干。
2.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:开沟为开V型槽,开沟深度为:135-140μm,V型槽顶部开口的宽度为:250-300μm。
3.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:开沟时间为3-5分钟。
4.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:漂洗为:先用清洗剂超声9-11分钟,再用70℃-90℃的热纯水超声9-11分钟,最后用流水浸泡9-11分钟。
5.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:混酸由体积比为9.0-9.2:9.0-9.2:12.0-12.2:4.0-4.2的硝酸、氢氟酸、醋酸和硫酸组成。
6.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:水洗时间为2-2.1分钟。
7.根据权利要求1所述的沟槽刻蚀加工工艺,其特征在于:二次烘干的温度为148-152摄氏度,时间为半小时。
8.一种二极管的生产方法,其特征在于:包括权利要求1-7任一所述的沟槽刻蚀加工工艺。
9.根据权利要求8所述的二极管的生产方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)硅片清洗;
(2)磷硼扩散;
(3)所述的沟槽刻蚀加工工艺;
(4)RCA清洗;
(5)涂玻璃,烧玻璃;
(6)镀镍开窗;
(7)镀镍及镍烧结;
(8)镀金。
10.根据权利要求9所述的二极管的生产方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)硅片清洗:用清洗剂超声,纯水冲洗,用氢氟酸浸泡,纯水清洗,烘干;
(2)磷硼扩散:先扩磷,扩磷温度为1200℃,时间为3个小时;再喷砂;然后扩硼,扩硼温度为1260℃,时间为24小时;
(3)所述的沟槽刻蚀加工工艺;
(4)RCA清洗:用氢氟酸浸泡,冲水,在1号溶液中75℃条件下煮至少6分钟,冲水,然后在2号溶液中75℃条件下煮6分钟,清洗后烘干;其中:1号溶液为:2500ml纯水、500ml浓度为30-35%的双氧水和500ml浓度为25-28%的氨水的混合液;2号溶液为2500ml纯水、500ml浓度为30-35%的双氧水和500ml浓度为36%的盐酸的混合液;
(5)涂玻璃,烧玻璃:一次涂玻璃浆,在温度650℃下保温1小时,一次涂玻璃浆的过程中通氧气,氧气流量为5L/分;再二次涂玻璃浆,在温度830℃下烧结15分钟,二次涂玻璃浆的过程中通氧气,氧气流量为10L/分;然后改为通氮气,氮气流量为10L/分;
(6)镀镍开窗:涂光刻胶,在90-100℃下烘烤30-35分钟,然后经曝光、显影和定影后在130-140℃下坚膜,坚膜时间为40-50分钟;采用盐酸和氢氟酸的混合液低温开窗,低温温度为-10℃,待温度升至-5℃时拿出,冲洗和硫酸去胶后,烘干;其中:盐酸和氢氟酸的混合液为3.6升浓度为36%的盐酸和0.6升浓度为49-50%的氢氟酸的混合液;
(7)镀镍及镍烧结:清洗,依次用氢氟酸及氯化金溶液处理后,冲水;一次镀镍,冲水烘干后,扩散炉升温至570-590℃烧结;采用浓度为65-68%的硝酸和纯水混合得到的硝酸溶液去掉镍表面氧化层,清洗,依次用氢氟酸及氯化金溶液处理,清洗后二次镀镍;其中:一次镀镍和二次镀镍的配比均为:20L纯水中加入1200g氯化镍、2000g氯化铵和2600g柠檬酸,搅拌后加入400g次亚磷酸钠;氢氟酸与氯化金溶液的体积比为250:2500,氯化金溶液的制备方法为:将1g氯化金和250ml盐酸配比得到氯化金储备液,将50ml氯化金储备液与10ml氢氟酸混合,然后再加入纯水至2500ml;
(8)镀金:采用镀金液镀金,镀金温度为90-92℃,冲水,烘烤。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造