[发明专利]沟槽刻蚀加工工艺及二极管的生产方法在审
申请号: | 201910003957.4 | 申请日: | 2019-01-03 |
公开(公告)号: | CN109727861A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 刘云燕;李昊阳;李广德;王鹏飞;王仁东;李书涛;魏功祥 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/304;H01L21/306 |
代理公司: | 淄博启智达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 37280 | 代理人: | 袭娜;王燕 |
地址: | 255086 山东省淄*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二极管 沟槽刻蚀 开沟 混酸腐蚀 完成晶片 醋酸 二次烘干 光刻工艺 光刻设备 一次烘干 开V型槽 光刻胶 混合物 开沟机 良品率 氢氟酸 漂洗 硝酸 黄光 混酸 硫酸 生产 制备 开口 节约 能源 | ||
本发明属于二极管生产领域,具体涉及一种沟槽刻蚀加工工艺及二极管的生产方法。用开沟机开沟,然后漂洗,一次烘干后再用混酸腐蚀,混酸为硝酸、氢氟酸、醋酸和硫酸的混合物,混酸腐蚀的时间为1.8‑2.2分钟,水洗后二次烘干。开沟为开V型槽,开沟深度为:135‑140μm,V型槽顶部开口的宽度为:250‑300μm。本发明完全不需要光刻工艺就能完成晶片的沟槽刻蚀,避免了繁琐的黄光过程,无需使用昂贵的光刻胶和光刻设备,采用简单的工艺和较短的时间完成晶片的沟槽刻蚀,极大的提高效率,良品率高,节约时间和能源,保护环境,本发明还提供一种二极管的生产方法,制备的二极管性能优异。
技术领域
本发明属于二极管生产领域,具体涉及一种沟槽刻蚀加工工艺及二极管的生产方法。
背景技术
目前高频整流二极管的生产工艺包含三次黄光光刻,其中第一次黄光光刻目的是对晶片进行沟槽刻蚀,以暴露PN节,为玻璃的钝化保护提供条件,同时也是为了将晶片分成若干个独立的晶粒,便于切割分离。但是众所周知,光刻工艺步骤繁琐,包括涂胶、曝光、显影、定影、坚膜、去胶以及漂洗等。当前传统黄光刻沟工艺流程为:1.拿取清洗片入光刻站、2.硅片表面涂胶、3.前烘(软烘)、4.对准与曝光、5.显影与定影、6.坚膜(硬烘)、7.检查、填写记录及收尾工作、8.品管检验、9.一次光刻片腐蚀、10.用纯水冲洗残留酸液、11.甩干与烘烤、12.检查、填写记录、13.品管检验、14.磷面补胶、15.烘烤、16.拿取材料至台腐站、17.检查准备工作、18.二遍光刻片腐蚀、19.用纯水冲水、20.硫酸去胶、21.冲水、22.甩干与烘干、23.检查收片及收尾、24.品管检验、25.测试TRR值、26.开沟材料至清洗站,全部工艺步骤多达26步,工艺复杂,而且仅黄光光刻进行沟槽刻蚀的完成时间就长达2-3小时。
光阻剂的涂布完整性、附着的牢固程度以及涉及到的显影定影工艺的稳定性,都决定了沟槽的蚀刻质量,影响因素复杂。黄光光刻进行沟槽刻蚀,不仅工艺步骤繁杂,要求苛刻,而且光刻胶品质以及光刻设备要求都比较高,好的光刻胶一般需要进口,光刻设备比较昂贵,以上因素都意味着人力、原材料以及设备的诸多要求,因此生产成本居高不下。同时,光刻工艺涉及到的光刻胶、显影定影化学品的使用以及此后的去胶清洗工艺,都会对环境造成污染。但是,黄光光刻进行沟槽刻蚀是当前通行的解决办法,没有更好的替代工艺,是目前硅二极管生产工艺的一个难题。当前的研究都是围绕黄光光刻工艺的提高,还没有能做到完全不用黄光光刻进行高质量的沟槽刻蚀的报道。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明的目的是提供一种沟槽刻蚀加工工艺,完全不需要光刻工艺就能完成晶片的沟槽刻蚀,避免了繁琐的黄光过程,无需使用昂贵的光刻胶和光刻设备,只需要使用开沟机,采用简单的工艺和较短的时间完成晶片的沟槽刻蚀,极大的提高效率,良品率高,大大降低工艺繁杂性,节约时间和能源,保护环境,本发明还提供一种二极管的生产方法,制备的二极管性能优异。
本发明所述的沟槽刻蚀加工工艺,用开沟机开沟,然后漂洗,一次烘干后再用混酸腐蚀,混酸为硝酸、氢氟酸、醋酸和硫酸的混合物,混酸腐蚀的时间为1.8-2.2分钟,水洗后二次烘干。
其中:
开沟深度为:135-140μm,宽度为:250-300μm。优选地,开沟为开V型槽,开沟深度为:135-140μm,V型槽顶部开口的宽度为:250-300μm。用开沟机开沟时间仅需3-5分钟。
本发明完全不需要光刻工艺就能完成晶片的沟槽刻蚀,避免了繁琐的黄光过程,无需使用昂贵的光刻胶和光刻设备,只需要使用开沟机,通过控制开沟形状、深度、宽度、时间和把握腐蚀时间,仅在3-5分钟就能完成晶片的沟槽刻蚀。
漂洗为:先用清洗剂超声9-11分钟,再用70℃-90℃的热纯水超声9-11分钟,最后用流水浸泡9-11分钟。清洗剂采用本领域常规市售的清洗剂。采用此种漂洗方法,能够去掉机械开沟产生的碎屑,且不对沟产生影响。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造