[发明专利]元素分辨且高空间分辨的界面自旋构型二维定量磁成像方法有效
申请号: | 201910008560.4 | 申请日: | 2019-01-04 |
公开(公告)号: | CN109738470B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 符潇潇;吴楷;肖婷婷 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01N23/04 |
代理公司: | 重庆项乾光宇专利代理事务所(普通合伙) 50244 | 代理人: | 高姜 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 元素 分辨 空间 界面 自旋 构型 二维 定量 成像 方法 | ||
1.一种元素分辨且高空间分辨的界面自旋构型二维定量磁成像方法,包括以下步骤,
s1.数据采集:s11.切取3d过渡族金属X磁性元素的超晶格多层膜特定位置和特定晶体学方向上的透射样品;s12.在最优衍射条件下,分别在衍射面的两个位置处采集X元素电子能量损失谱信号进行能量过滤成像;其中,每个位置均连续采集一系列能量过滤图像Ⅰ组成数据立方,其能量损失范围包括X-L3峰前20eV、X-L3峰、X-L2峰、X-L2峰后50eV;s13.在同一观察区域测定材料在观察区域的厚度、晶体结构和晶体取向;
s2.图像处理:s21.将步骤s12中同一位置采集的数据立方Ⅰ通过计算获得两幅图像Ⅱ;所述图像Ⅱ分别含有去除背底的X-L3峰信号和X-L2峰信号在二维空间的分布;s22.根据EMCD加和法则对四幅图像Ⅱ进行运算,并设定恰当的灰度值范围,得到两幅衬度图像;s23.结合步骤s13中测定的参数进行动力学衍射计算,进而对所述衬度图像进行矫正;
s3.信息提取:s31.从矫正后的所述衬度图像中直接分辨出X元素自旋磁矩的大小和方向在二维空间中的变化;s32.建立矫正后的所述衬度图像灰度和磁矩矢量之间的数值关联,并从该衬度图像中提取局域X自旋磁矩的大小和方向平行于z轴的分量,获取xy平面空间内各处X磁矩的定量数值信息;s33.根据提取的所述定量数值信息,重建界面处X元素的自旋磁矩构型,获得界面处X磁矩的耦合情况。
2.根据权利要求1所述元素分辨且高空间分辨的自旋构型二维定量磁成像方法,其特征在于:步骤s12中,所述图像Ⅰ的采集过程中,应确保参数的设定完全一致。
3.根据权利要求1所述元素分辨且高空间分辨的自旋构型二维定量磁成像方法,其特征在于:步骤s13中,通过汇聚电子束衍射技术测定材料在观察区域的厚度。
4.根据权利要求1所述元素分辨且高空间分辨的自旋构型二维定量磁成像方法,其特征在于:步骤s21中,需参考同步记录的形貌图,针对透射样品的漂移和物镜电流的变动对图像进行校准。
5.根据权利要求1所述元素分辨且高空间分辨的自旋构型二维定量磁成像方法,其特征在于:步骤s21中,需根据图像Ⅱ的实际情况进行降噪处理。
6.根据权利要求1所述元素分辨且高空间分辨的自旋构型二维定量磁成像方法,其特征在于:步骤s3中,如在同一区域中同步获取其他元素的自旋构型图像,可获知X磁矩与其他原子/离子磁矩的耦合。
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