[发明专利]一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统

权利要求书

1.一种显示面板的封装检测方法，所述显示面板为包括封装薄膜的显示面板，其特征在于，所述封装检测方法包括：

获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；所述基准显示面板中的封装薄膜未受损；

根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；

获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；

将所述第二太赫兹光谱数据与所述基准太赫兹光谱数据对比，获取所述待检测的显示面板的受损的位置。

2.根据权利要求1所述的显示面板的封装检测方法，其特征在于，

所述基准太赫兹光谱数据包括：水分子的吸收光谱数据，和/或，有机分子的吸收或反射光谱数据。

3.根据权利要求1所述的显示面板的封装检测方法，其特征在于，所述根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据包括：

获取所述多个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据中相应位置的光谱数据的平均值，并作为基准太赫兹光谱数据在该相应位置的光谱数据。

4.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板的封装检测方法，其特征在于，所述显示面板为OLED显示面板。

5.一种显示面板的封装检测装置，所述显示面板为包括封装薄膜的显示面板，其特征在于，所述封装检测装置包括：

太赫兹光谱数据获取模块，用于获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；所述基准显示面板中的封装薄膜未受损；

基准建立模块，用于根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；

所述太赫兹光谱数据获取模块，还用于获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；

位置获取模块，用于将所述第二太赫兹光谱数据与所述基准太赫兹光谱数据对比，获取所述待检测的显示面板的受损位置。

6.根据权利要求5所述的显示面板的封装检测装置，其特征在于，

所述基准建立模块，还用于获取所述多个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据中相应位置的光谱数据的平均值，并作为基准太赫兹光谱数据在该相应位置的光谱数据。

7.一种显示面板的封装检测系统，其特征在于，包括太赫兹发生器、太赫兹探测器以及权利要求5或6所述的显示面板的封装检测装置；

所述太赫兹发生器用于向多个基准显示面板中每个基准显示面板发射太赫兹波；所述太赫兹探测器用于接收透过所述基准显示面板的太赫兹波；

所述封装检测装置用于根据所述太赫兹发生器向多个基准显示面板中每个基准显示面板发射的太赫兹波以及所述太赫兹探测器接收的透过所述基准显示面板的太赫兹波，获取所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；

所述太赫兹发生器还用于向待检测的显示面板发射太赫兹波；所述太赫兹探测器还用于接收透过所述检测的显示面板的太赫兹波；

所述封装检测装置还用于根据所述太赫兹发生器向待检测的显示面板发射的太赫兹波，以及所述太赫兹探测器接收的透过待检测的显示面板的太赫兹波，获取所述待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据。

8.根据权利要求7所述的显示面板的封装检测系统，其特征在于，

所述显示面板的封装检测系统还包括：检测腔室、以及位于所述检测腔室内的面板承载装置和移动装置；

所述检测腔室用于提供充满惰性气体的检测环境；

通过所述移动装置使得所述面板承载装置相对于所述太赫兹探测器、所述太赫兹发生器移动，以对承载于所述面板承载装置上的显示面板进行扫描检测。

9.一种计算机可读介质，其存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被终端执行时实现如权利要求1-4任一项所述的显示面板的封装检测方法。