[发明专利]一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统

说明书

本发明实施例提供一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统，涉及显示技术领域，能够无损的对显示面板的受损位置进行检测；该显示面板为包括封装薄膜的显示面板，该封装检测方法包括：获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；基准显示面板中的封装薄膜未受损；根据多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；将第二太赫兹光谱数据与基准太赫兹光谱数据对比，获取待检测的显示面板的受损的位置。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，简称OLED)显示器因其具有自发光、轻薄、功耗低、高对比度、高色域、可实现柔性显示等优点，已被广泛地应用于包括电脑、手机等电子产品在内的各种电子设备中。

然而，OLED显示器中的OLED器件极易与环境中水汽和氧气发生反应，导致OLED器件失效。现有技术中，对OLED器件的封装失效分析中，通常是采用在OLED器件点亮状态下，观察像素发光异常(如暗点)状况来判断，一方面，通过点亮的方式对OLED器件造成损害；另一方面，该检测方法无法对水分的分布状况进行检测，进而无法准确给出器件封装的薄弱点。

发明内容

本发明的实施例提供一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统，能够无损的对显示面板的受损位置(封装薄弱位置)进行检测。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例提供一种显示面板的封装检测方法，所述显示面板为包括封装薄膜的显示面板，所述封装检测方法包括：获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；所述基准显示面板中的封装薄膜未受损；根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；将所述第二太赫兹光谱数据与所述基准太赫兹光谱数据对比，获取所述待检测的显示面板的受损的位置。

在一些实施例中，所述基准太赫兹光谱数据包括：水分子的吸收光谱数据，和/或，有机分子的吸收或反射光谱数据。

在一些实施例中，所述根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据包括：获取所述多个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据中相应位置的光谱数据的平均值，并作为基准太赫兹光谱数据在该相应位置的光谱数据。

在一些实施例中，所述显示面板为OLED显示面板。

本发明实施例还提供一种显示面板的封装检测装置，所述显示面板为包括封装薄膜的显示面板，所述封装检测装置包括：太赫兹光谱数据获取模块，用于获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；所述基准显示面板中的封装薄膜未受损；基准建立模块，用于根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；所述太赫兹光谱数据获取模块，还用于获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；位置获取模块，用于将所述第二太赫兹光谱数据与所述基准太赫兹光谱数据对比，获取所述待检测的显示面板的受损位置。

在一些实施例中，所述基准建立模块，还用于获取所述多个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据中相应位置的光谱数据的平均值，并作为基准太赫兹光谱数据在该相应位置的光谱数据。