[发明专利]测量方法、装置和存储介质

说明书

本发明提供一种测量方法、装置和存储介质，该方法包括：根据每个类型的彩膜基板对应的测量参数，对每个类型的彩膜基板中的间隔带的标准片进行测量，获取每个类型的彩膜基板的间隔带的标准片的第一高度和第一宽度；根据待测量彩膜基板对应的测量参数，对待测量彩膜基板中的间隔带的宽度和高度进行测量，获取待测量彩膜基板中的间隔带的第二高度和第二宽度；根据第一高度、第一宽度、第二高度和第二宽度，获取待测量彩膜基板中的间隔带的测量结果。本发明提供的测量方法能够在一个标准片上获取间隔带的标准参数，进而根据该标准片的测量参数，获取待测量彩膜基板的测量结果，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及彩膜基板测试技术领域，尤其涉及一种测量方法、装置和存储介质。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，现己占据了平面显示领域的主导地位。液晶显示器的主体结构包括对盒在一起并将液晶夹设其间的阵列基板和彩膜基板。彩膜基板(Color Filter，CF)是LCD用来实现彩色显示的主要器件，CF一般通过将黑矩阵(Black Matrix，BM)、红色(Red，R)光阻材料、绿色(Green，G)光阻材料、蓝色(Blue，B)光阻材料、间隔物(Photo Spacer，PS)涂布于玻璃基板上，经过曝光、显影和烘干后形成。由于高精细和超薄化是当今LCD技术发展的趋势，而超薄化要求要对CF中的R光阻、G光阻及B光阻的膜厚进行严格的控制，且R光阻、G光阻及B光阻到CF中的基板的膜厚关系到LCD在进行彩色显示的时候，显示的颜色是否满足光学需要间隔物宽度和高度满足一定的条件。

现有技术中，预先设置2个标准片，分别为二维2D标准片和三维3D标准片；2D标准片的宽度为间隔物的标准宽度，3D标准片的高度为间隔物的标准高度，通过对标准片的测量获取间隔物的标准宽度和高度。

现有技术的测量方式在获取间隔物的标准宽度和高度时，需要对两个标准片进行测量获取，测量效率低。

发明内容

本发明提供一种测量方法、装置和存储介质，能够在一个标准片上获取间隔带的标准参数，进而根据该标准片的测量参数，获取待测量彩膜基板的测量结果，提高了测试效率。

本发明的第一方面提供测量方法，包括：

根据每个类型的彩膜基板对应的测量参数，对每个类型的所述彩膜基板中的间隔带的标准片进行测量，获取每个类型的所述彩膜基板的间隔带的标准片的第一高度和第一宽度；

根据待测量彩膜基板对应的测量参数，对所述待测量彩膜基板中的间隔带的宽度和高度进行测量，获取所述待测量彩膜基板中的间隔带的第二高度和第二宽度；

根据所述第一高度、所述第一宽度、所述第二高度和所述第二宽度，获取所述待测量彩膜基板中的间隔带的测量结果。

可选的，所述根据所述待测量彩膜基板对应的测量参数，对所述待测量彩膜基板中的间隔带的宽度和高度进行测量，获取所述待测量彩膜基板中的间隔带的第二高度和第二宽度，包括：

控制至少一个测量头移动至所述待测量彩膜基板中的间隔带上的标记位置处，并根据所述待测量彩膜基板对应的测量参数，对所述标记位置处的间隔带的宽度和高度进行多次测量，获取多个第三高度和多个第三宽度；

将多个所述第三高度的均值作为所述待测量彩膜基板中的间隔带的第二高度，将多个所述第三宽度作为所述待测量彩膜基板中的间隔带的第二宽度。

可选的，所述根据所述待测量彩膜基板对应的测量参数，对所述待测量彩膜基板中的间隔带的宽度和高度进行测量之前，还包括：

根据所述待测量彩膜基板的类型，获取所述待测量彩膜基板对应的测量参数。

可选的，所述根据所述第一高度、所述第一宽度、所述第二高度和所述第二宽度，获取所述待测量彩膜基板中的间隔带的测量结果，包括：