[发明专利]测试用电路板

权利要求书

1.一种测试用电路板，其特征在于，包括：

基板，所述基板设有Dk和Df提取区域以及信号损耗区域；

所述信号损耗区域设有用于检测信号损耗的第一电路；

所述Dk和Df提取区域设有用于Dk和Df提取的第二电路；

其中，所述基板为多层结构，多层结构的所述基板中包括至少一层信号层，所述第一电路与所述第二电路设于每层所述信号层上；

所述基板上还设有背钻测试区域；

所述背钻测试区域设有用于测试stub长度用的背钻孔；

所述背钻孔设于每层所述信号层上；

所述第一电路包括Delta L测试信号电路。

2.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，

所述第一电路包括VNA测试信号电路。

3.根据权利要求2所述的测试用电路板，其特征在于，

所述VNA测试信号电路包括两组第一差分线；

两组所述第一差分线中的每条线路两端均开设有第一信号孔；

其中，两组所述第一差分线不等长。

4.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，

所述Delta L测试信号电路包括两组第二差分线；

两组所述第二差分线中的每条线路两端均开设有第二信号孔；

多层所述信号层中，除设置有所述Delta L测试信号电路的所述信号层自身之外的其他层均设置有第三信号孔，所述第二信号孔与所述第三信号孔通过线路相连接；

其中，两组所述第二差分线不等长。

5.根据权利要求4所述的测试用电路板，其特征在于，

所述基板上还设置有定位孔，位于所述第二信号孔周侧，用于固定检测Delta L测试信号电路用探针。

6.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，

第二电路包括两条单线；

两条所述单线中的每条线路两端均开设有第四信号孔；

其中，两条所述单线不等长。

7.根据权利要求4所述的测试用电路板，其特征在于，

所述背钻测试区域设置在所述基板的边缘。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的测试用电路板，其特征在于，

多层结构的所述基板中还包括：接地层和/或电源层；

在检测时，若所述信号层与所述接地层或所述电源层相邻，则所述信号层以与之相邻的所述接地层或所述电源层作为参考平面；

若两层所述信号层相邻，则两层所述信号层互为参考平面。