[发明专利]实时时钟检测装置及方法

权利要求书

1.一种实时时钟故障检测装置，其特征在于，包括：

温度补偿晶体振荡器电路，用于提供精准的时钟源；

检测分析模块，与所述温度补偿晶体振荡器电路相连，外接被测的RTC芯片且能够与智能电表之间进行数据交互，用于在收到测试指令后，检测及分析所述智能电表或所述RTC芯片的实时时钟故障；

通信接口模块，包括控件输入接口以及显示驱动接口，所述控件输入接口能够输入测试请求；

主控模块，与所述检测分析模块以及所述通信接口模块均相连，用于在所述通信接口模块输入所述测试请求后，向所述检测分析模块发送所述测试指令，还用于将所述检测分析模块的实时时钟故障的检测数据转换成便于显示的数据；以及

显示模块，与所述显示驱动接口相连，用于在所述显示驱动接口的驱动下显示所述主控模块转换后的实时时钟故障检测数据，

其中，所述检测分析模块、所述通信接口模块以及所述主控模块均集成在FPGA芯片上。

2.如权利要求1所述的实时时钟故障检测装置，其特征在于，所述温度补偿晶体振荡器电路的时钟精度小于0.0025PPM。

3.如权利要求1所述的实时时钟故障检测装置，其特征在于，所述检测分析模块包括：

RTC芯片测试插座，用于连接RTC芯片；

电表脉冲端子测试表笔，用于与智能电表进行数据交互；以及

故障分析电路，与所述RTC芯片测试插座以及所述电表脉冲端子测试表笔以及所述温度补偿晶体振荡器电路均相连，用于在收到所述测试指令后产生测试激励，所述主控模块将所述测试激励发送给所述RTC芯片或所述智能电表从而检测所述RTC芯片或所述智能电表的实时时钟信号数据，还用于将所述RTC芯片的实时时钟信号数据或所述智能电表的实时时钟信号数据与时钟参考数据进行对比分析，从而分析出所述RTC芯片或所述智能电表的实时时钟故障情况，所述参考数据能够通过所述故障分析电路与所述温度补偿晶体振荡器电路所组成的电路测量得到。

4.如权利要求3所述的实时时钟故障检测装置，其特征在于，所述通信接口模块还包括：

I2C接口，与所述RTC芯片测试插座相连，所述RTC芯片测试插座通过所述I2C接口实现所述RTC芯片与所述主控模块以及所述检测分析模块之间的数据交互；以及

红外接口，所述电表脉冲端子测试表笔通过所述红外接口实现与所述主控模块以及所述检测分析模块之间的数据交互。

5.如权利要求1所述的实时时钟故障检测装置，其特征在于，所述显示模块为LCD显示屏。

6.一种实时时钟故障检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将被测的RTC芯片或智能电表与检测分析模块之间建立数据通信；

控件输入接口输入测试请求；

主控模块收到所述测试请求后，向所述检测分析模块发送测试指令；

所述检测分析模块收到所述测试指令后对所述RTC芯片或所述智能电表的实时时钟故障进行检测和分析；

所述主控模块将所述检测分析模块的实时时钟故障的检测数据转换为便于显示的数据；

所述主控模块通过显示驱动接口将转换后的实时时钟故障的检测数据传输至显示模块；以及

所述显示模块显示所述转换后的实时时钟故障的检测数据，

其中，所述检测及分析模块、所述控件输入接口、所述主控模块、所述显示驱动接口的时钟信号由温度补偿晶体振荡器电路来提供。

7.如权利要求6所述的实时时钟故障检测方法，其特征在于，所述温度补偿晶体振荡器电路的时钟精度小于0.0025PPM。

8.如权利要求6所述的实时时钟故障检测方法，其特征在于，所述检测分析模块包括：RTC芯片测试插座、电表脉冲端子测试表笔以及故障分析电路，所述RTC芯片测试插座连接RTC芯片，所述电表脉冲端子测试表笔与智能电表之间进行数据通信。

9.如权利要求8所述的实时时钟故障检测方法，其特征在于，所述检测分析模块收到所述测试指令后对所述RTC芯片或所述智能电表的实时时钟故障进行检测和分析包括：

所述故障分析电路收到所述测试指令后产生测试激励；

所述主控模块通过I2C接口将所述测试激励传输至所述RTC芯片测试插座，所述故障分析电路对所述RTC芯片检测实时时钟信号，或所述主控模块通过红外接口将所述测试激励传输至所述电表脉冲端子测试表笔，所述故障分析电路对所述智能电表检测实时时钟信号；

所述故障分析电路与所述温度补偿晶体振荡器电路相连接组成的电路检测出时钟参考数据；以及

所述故障分析电路将所述RTC芯片的实时时钟信号数据或智能电表的实时时钟信号数据与所述时钟参考数据进行对比分析，分析出所述RTC芯片或所述智能电表的实时时钟故障情况。