[发明专利]一种线激光层析检测系统

说明书

本发明公开了一种线激光层析检测系统，所述检测系统包括：激光发生装置，所述激光发生装置发射脉冲可见点激光；激光传导系统，所述激光传导系统位于所述激光发生装置的输出端，将所述点激光转换为线激光；激光扫描系统，所述激光扫描系统位于激光传导系统之中，对所述线激光进行扫描，使其漫反射至待检测物体表面上；激光控制系统，所述激光控制系统位于所述激光传导系统的输出端，对光信号进行通断控制；激光探测系统，所述激光探测系统位于所述激光控制系统的输出端，接收所述漫反射的线激光。通过采用三角测距技术实现了近距离微小尺寸的测量，通过采用线激光扫描方式，提高了测量效率，同时通过采用高速快门，消除了环境中的粉尘干扰问题。

技术领域

本申请涉及激光检测技术领域，尤其涉及一种线激光层析检测系统。

背景技术

激光三角测距仪是利用激光对目标的移动距离进行准确测定的仪器。用一束激光以一定的入射角度照射被测物体，激光在物体表面发生反射和散射，在另一角度利用透镜对反射或散射激光汇聚成像，光斑成像在CCD位置传感器上。当被测物体沿激光方向发生移动时，位置传感器上的光斑将产生移动，其位移大小对应被测物体的移动距离，因此可通过算法设计，由光斑位移距离计算出被测物体的移动距离。由于入射光和反射光构成一个三角形，对光斑位移的计算运用了几何三角定理，故该测量法称为激光三角测距法。激光三角测距法也可用于对增材制造过程中的缺陷或激光焊接过程中的焊缝进行监测。

但本申请发明人在实现本申请实施例中技术方案的过程中，发现上述现有技术至少存在如下技术问题：

利用现有激光三角测距技术对增材制造过程中的缺陷或激光焊接过程中的焊缝进行监测时，存在测量效率不高、且无法避免环境中粉尘干扰的技术问题。

申请内容

本申请实施例通过提供一种线激光层析检测系统，用以解决利用现有激光三角测距技术对增材制造过程中的缺陷或激光焊接过程中的焊缝进行监测时，存在测量效率不高、且无法避免环境中粉尘干扰的技术问题。

为了解决上述问题，本申请实施例提供了一种线激光层析检测系统，其所述检测系统包括：激光发生装置，所述激光发生装置发射出脉冲可见点激光；激光传导系统，所述激光传导系统位于所述激光发生装置的输出端，将所述激光发生装置发射出的点激光转换为线激光，再经激光扫描系统将所述线激光按照第一角度入射至待检测物体表面后产生漫反射，并按照第二角度将漫反射的线激光进行成像；激光扫描系统，所述激光扫描系统位于激光传导系统之中，对所述点激光所转换的线激光进行扫描，使得其入射至待检测物体表面不同位置处；激光控制系统，所述激光控制系统位于所述激光传导系统的输出端，对所述激光传导系统输出的光信号进行通断控制；激光探测系统，所述激光探测系统位于所述激光控制系统的输出端，接收所述待检测物体漫反射的线激光，由线激光在探测器上的位置可以推算出所述待检测物体的缺陷信息，实现对所述待检测物体的缺陷检测。

优选的，所述激光传导系统包括：柱透镜，所述柱透镜位于所述激光发生装置的输出端，将所述点激光转换为线激光并输出；待检测物体，所述待检测物体位于所述激光扫描系统的输出端，接收所述激光扫描系统出射的线激光并进行漫反射；球透镜，所述球透镜位于所述待检测物体的输出端，接收所述待检测物体漫反射的线激光，并将所述待检测物体漫反射的线激光成像至所述激光探测系统。

优选的，所述激光扫描系统位于激光传导系统之中，即位于所述柱透镜的输出端。

优选的，所述激光扫描系统包括激光扫描器，所述激光扫描器使得激光入射至待检测物体表面不同位置处。

优选的，所述激光控制系统包括快门，所述快门通过开关控制所述待检测物体漫反射的线激光的通断。

优选的，所述快门时间最长不超过亚纳秒量级。