[发明专利]线缆检测方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201910026554.1 申请日: 2019-01-11
公开(公告)号: CN109596944B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 易国锴 申请(专利权)人: 上海仁童电子科技有限公司
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 200235 上海市徐汇区中山西*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 线缆 检测 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种线缆检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取待测线缆的反射系数和正向传输系数;

基于所述反射系数及所述正向传输系数进行插损计算,得到所述待测线缆的接入插损数据和线缆衰减数据;

利用所述接入插损数据,对所述反射系数进行插损校正,并利用插损校正后的反射系数,得到所述待测线缆的时域冲击表达式,所述时域冲击表达式能够表明所述待测线缆的等效反射系数与所述线缆衰减数据之间的关系;

利用所述线缆衰减数据,对所述时域冲击表达式同时进行衰减函数的时域衰减校正和频域衰减校正以及相位函数的时域衰减校正和频域衰减校正,基于校正结果得到所述待测线缆的等效反射系数序列,其中,所述衰减函数和所述相位函数都是与距离和频率相关的函数;

利用所述等效反射系数序列,得到所述待测线缆的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述反射系数及所述正向传输系数进行插损计算,得到所述待测线缆的接入插损数据和线缆衰减数据,包括:

获取所述反射系数的时域响应序列,以及所述正向传输系数的传输系数曲线;

利用所述时域响应序列的第一个频点数据,得到接入插损数据;

利用所述接入插损数据对所述传输系数曲线进行接入插损补偿,获得所述待测线缆的线缆衰减数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述反射系数的时域响应序列,以及所述正向传输系数的传输系数曲线,包括:

对测量得到的所述反射系数进行相位修正;

获取相位修正后的反射系数对应的时域响应值;

利用所述反射系数的扫频起始频率,对所述时域响应值进行频偏修正,得到所述时域响应序列;

对测量得到的所述正向传输系数进行滑动滤波,得到所述传输系数曲线。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述接入插损数据,对所述反射系数进行插损校正,并利用插损校正后的反射系数,得到所述待测线缆的时域冲击表达式,包括:

获取相位修正后的反射系数;

利用所述接入插损数据,对所述相位修正后的所述反射系数进行插损校正,得到所述待测线缆校正后的反射系数频域表达式;

获取所述反射系数频域表达式对应的时域冲击表达式。

5.根据权利要求1~4任一项所述的方法,其特征在于,所述利用所述线缆衰减数据,对所述时域冲击表达式同时进行衰减函数的时域衰减校正和频域衰减校正以及相位函数的时域衰减校正和频域衰减校正,基于校正结果得到所述待测线缆的等效反射系数序列,包括:

对所述线缆衰减数据进行计算,得到所述待测线缆随测量距离变化的衰减值;

利用所述待测线缆的光速参数和线缆传输因子,计算得到所述待测线缆随测量距离变化的相位值;

依据矩阵运算规则,利用计算得到的所述随测量距离变化的衰减值和所述随测量距离变化的相位值,同时对所述时域冲击表达式进行衰减函数的时域衰减校正和频域衰减校正以及相位函数的时域衰减校正和频域衰减校正,得到所述时域冲击表达式中的所述等效反射系数序列。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述依据矩阵运算规则,利用计算得到的所述随测量距离变化的衰减值和所述随测量距离变化的相位值,同时对所述时域冲击表达式进行衰减函数的时域衰减校正和频域衰减校正以及相位函数的时域衰减校正和频域衰减校正,得到所述时域冲击表达式中的所述等效反射系数序列,包括:

将所述时域冲击表达式中的时域冲击数据作为对角线元素,生成对角矩阵;

利用所述随测量距离变化的衰减值和所述随测量距离变化的相位值,同时对所述对角矩阵中不同方向的向量数据进行校正,得到频率分量-距离矩阵;

对所述频率分量-距离矩阵的行向量数据进行处理,得到所述待测线缆随测量距离变化的所述等效反射系数。

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