[发明专利]线缆检测方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201910026554.1 申请日: 2019-01-11
公开(公告)号: CN109596944B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 易国锴 申请(专利权)人: 上海仁童电子科技有限公司
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 200235 上海市徐汇区中山西*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 线缆 检测 方法 装置 电子设备
【说明书】:

本申请提供一种线缆检测方法、装置及电子设备,不需要增加额外硬件消耗,能够直接利用测量得到的反射系数和正向传输系数,得到因检测设备与待测线缆连接部分造成的接入插损数据,以及由待测线缆自身造成的线缆衰减数据,以便利用该接入插损数据,对反射系数进行插损校正,剔除反射系数中的接入能量损失,得到因待测线缆自身因素,而产生的反射系数的时域冲击表达式,这样,利用得到的线缆衰减数据,对该时域冲击表达式同时进行时域和频域的衰减校正,得到待测线缆的等效反射系数序列,该等效反射系数序列能够直观反映待测线缆的近端和远端的故障程度,且能够定量描述待测线缆质量,得到准确且全面的检测结果。

技术领域

本申请涉及检测技术领域,更具体地说是涉及一种线缆检测方法、装置及电子设备。

背景技术

在线缆故障检测中,目前线缆检测仪通常是采用VNA(Vector Network Analyzer,矢量网络分析)方式来检测线缆质量,即利用傅里叶逆变换方式,观察时域信号强度的变化,从而确定线缆质量或定位故障。

然而,对于较长的线缆,信号往往会随线缆长度衰减,例如对于WTB(Wire TrainBus,绞线式列车总线)线缆,带宽设计较低,高频衰减严重。若采用 VNA方法对较长的WTB线缆进行检测,所得到的用于衡量线缆质量的“反射系数”时域图像会存在衰减,且该衰减是由线缆长度和高频共同造成,很难识别远端的故障程度与近端的哪个更大,往往需要经验丰富的工程人员多次测量后,才能综合分析得知线缆质量,检测效率和准确性都比较低。

因此现有的这种VNA方式很难准确描述线缆质量,计算结果反映的是测量端的接收值,并非是线缆上的等效反射系数值,导致检测结果准确性低。

发明内容

鉴于上述问题,本申请提供了一种线缆检测方法、装置及电子设备,解决了现有的VNA测量方法,无法实现对WTB线缆的定量检测的技术问题。

为了解决上述技术问题,本申请提供了以下技术方案:

本申请实施例提供了一种线缆检测方法,所述方法包括:

获取待测线缆的反射系数和正向传输系数;

基于所述反射系数及所述正向传输系数进行插损计算,得到所述待测线缆的接入插损数据和线缆衰减数据;

利用所述接入插损数据,对所述反射系数进行插损校正,并利用插损校正后的反射系数,得到所述待测线缆的时域冲击表达式,所述时域冲击表达式能够表明所述待测线缆的等效反射系数与所述线缆衰减数据之间的关系;

利用所述线缆衰减数据,对所述时域冲击表达式同时进行时域衰减校正和频域衰减校正,基于校正结果得到所述待测线缆的等效反射系数序列;

利用所述等效反射系数序列,得到所述待测线缆的检测结果。

可选的,所述基于所述反射系数及所述正向传输系数进行插损计算,得到所述待测线缆的接入插损数据和线缆衰减数据,包括:

获取所述反射系数的时域响应序列,以及所述正向传输系数的传输系数曲线;

利用所述时域响应序列的第一个频点数据,得到接入插损数据;

利用所述接入插损数据对所述传输系数曲线进行接入插损补偿,获得所述待测线缆的线缆衰减数据。

可选的,所述获取所述反射系数的时域响应序列,以及所述正向传输系数的传输系数曲线,包括:

对测量得到的所述反射系数进行相位修正;

获取所述相位修正后的所述反射系数对应的时域响应值;

利用所述反射系数的扫频起始频率,对所述时域响应值进行频偏修正,得到时域响应序列;

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