[发明专利]高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺

权利要求书

1.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备，其中，

所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外；所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内，且所述天线与测试桌的相对距离小于3m；

所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接，所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接，所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接；

所述控制设备控制所述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器，所述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线，并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至所述控制设备；

场强探头与控制设备电连接，所述场强探头探测天线生成的场强强度，并将探测数据反馈给所述控制设备。

2.根据权利要求1所述的高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，

所述天线与地面垂直距离为1.05m；

所述天线与待测样品的水平相对距离为1.0m；

所述测试桌的桌面的垂直高度为0.8m。

3.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，包括校准和测试，其特征在于，校准包括步骤：

根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量：

获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值，并根据预设的对应的前向功率标准值，计算出每一个指定校准点在每一个指定频率段中的功率偏差；

判断是否存在大于指定值的功率偏差值；

若无，则校准完成。

4.根据权利要求3所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于测试包括步骤：

将信号发生器产生的载波信号调节至所述校准时得到的信号发生器的输出值；

按指定方向和单位位移移动天线和待测样品的位置进行测试，并实时获取待测样品的工作状态参数；

根据所述待测样品的工作状态参数得出测试评估结果。

5.根据权利要求4所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，所述指定位移步进为0.5m；

所述前向功率偏差范围为0-6dB。

6.根据权利要求3所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，所述应该根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量的步骤包括：

根据被测物的尺寸大小换算出校准窗口的数量；

根据校准窗口的数量换算出需要开启的指定校准点数量。

7.根据权利要求6所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，所述校准窗口为0.5m*0.5m的正方形，且与地面的垂直距离最低为0.8m；

所述校准窗口数量大于或等于1；

所述指定校准点为校准窗口的顶点。

8.根据权利要求7所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，所述校准点数为所有开启的校准窗口顶点数量之和。

9.根据权利要求3所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值的步骤，包括：

将所述场强探头分别移至每一个校准点，在所述场强探头移至任一校准点时控制所述信号发生器产生处于指定频率范围内的未调制载波信号。

10.根据权利要求9所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于，所述指定频率范围内为1-6GHz，所述未调制载波信号产生的场强大于或等于54V/m；

控制所述信号发生器产生处于指定频率范围内的未调制载波信号的步骤，包括：

控制所述信号发生器产生频率为1GHz的所述未调制载波信号，并以1％步进/次的增频速度将所述未调制载波信号的频率从1GHz增加至6GHz。