[发明专利]显示面板补偿方法在审
申请号: | 201910080575.1 | 申请日: | 2019-01-28 |
公开(公告)号: | CN110097854A | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 雷蒙德·利伦特韦德;丹尼尔·希尔斯;萨默·穆萨 | 申请(专利权)人: | 伊格尼斯创新公司 |
主分类号: | G09G3/3258 | 分类号: | G09G3/3258 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;曹正建 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 灰度电平 偏移 像素 有机发光二极管器件 非均匀性补偿 发光显示器 灰度驱动 显示面板 校正函数 源矩阵 | ||
1.一种针对具有像素的发光显示面板的非均匀性的补偿方法,每个所述像素具有发光器件,所述方法包括:
选择多个灰度驱动电平,所述灰度驱动电平代表所述显示面板的可用灰度驱动电平范围的主要部分;
针对每个所述像素,
在每个预定的灰度驱动电平下测量所述像素;
针对每个所述预定的灰度驱动电平,使用所述测量的结果确定相对于所述像素的所述预定的灰度驱动电平的偏移值,所述偏移值创建均匀平场;
使用所述确定的偏移值确定均匀性校正函数;以及
使用所述均匀性校正函数校正所述像素的输入驱动电平,以补偿所述非均匀性。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,测量所述像素包括使用外部光学测量系统和集成光学测量器件中的至少一个来进行亮度的光学测量。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,用针对每个所述预定的灰度驱动电平的所述确定的偏移值所创建的所述均匀平场包括由所述发光显示面板的每个所述像素产生的均匀的亮度。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,测量所述像素包括使用所述发光显示面板的监控系统来对所述像素的输出电流进行电力测量。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,用针对每个所述预定的灰度驱动电平的所述确定的偏移值所创建的所述均匀平场包括由所述发光显示面板的每个所述像素输出的均匀的电流。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,使用所述测量的结果确定所述偏移值包括使用先前得到的测量的结果来确定所述偏移值。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,使用所述测量的结果确定所述偏移值包括迭代地调整所述预定的灰度驱动电平的初始偏移值,并重复测量所述像素,直到达到创建所述均匀平场的所述偏移值为止。
8.根据权利要求1所述的方法,其还包括:将针对每个所述预定的灰度驱动电平的每个所述像素的每个偏移值存储在所述发光显示面板的存储器中。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所选择的预定的灰度驱动电平的数量为两个,并且,其中,所述均匀性校正函数是根据每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值生成的线性均匀性校正函数。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述线性均匀性校正函数是所述输入驱动电平和每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值的函数。
11.根据权利要求1所述的方法,其中,所选择的预定的灰度驱动电平的数量N大于两个,并且,其中,所述均匀性校正函数是根据每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值生成的分段线性均匀性校正函数。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述分段线性均匀性校正函数是所述输入驱动电平和每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值的函数。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,所选择的预定的灰度驱动电平的数量N大于两个,并且,其中,所述均匀性校正函数是根据每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值生成的N-1阶或更低阶的曲线拟合多项式均匀性校正函数。
14.根据权利要求13所述的方法,其中,所述N-1阶或更低阶的曲线拟合多项式均匀性校正函数是所述输入驱动电平和每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值的函数。
15.根据权利要求1所述的方法,其中,每个所述发光器件包括有机发光器件。
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