[发明专利]显示面板补偿方法

说明书

本发明公开一种针对有源矩阵有机发光二极管器件(AMOLED)和其他发光显示器的非均匀性补偿方法。对于每个像素，确定能产生均匀的平场的多个预定的灰度驱动电平的灰度电平偏移，并使用该灰度电平偏移生成像素的校正函数。

技术领域

本发明涉及发光视觉显示技术的补偿，尤其是涉及针对有源矩阵有机发光二极管器件(AMOLED)和其他发光显示器，通过测量和补偿单个像素亮度来改善显示均匀性的方法。

背景技术

很多现代显示技术从制造时起就存在缺陷、变化和不均匀性，并且在显示器的使用寿命期间可能进一步老化和劣化，这导致产生了与预期存在偏差的图像。可以在制造期间或者在显示器已经投入使用之后使用光学校正系统和方法，以测量和校正整个显示器上的像素(和子像素)。为了校正显示器的视觉上的缺陷，特意用补偿数据或校正数据修正输入的视频信号，使得补偿这些缺陷。在一些方法中，为了确定校正数据，首先，针对多个灰度亮度值测量各个面板像素的亮度，然后，基于产生期望亮度为每个像素确定校正值。其他方法利用电测量值、亮度测量值和已知的像素特性中的一个或多个的组合以及适当的算法，来预测产生期望亮度的校正值。显示技术的主要视觉缺陷之一是整个显示器上的不均匀性，其可感知为应当显示为平场的图像的整个部分上的亮度或颜色差异。

特别是，有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)面板的特征在于由多种因素引起的大量的亮度不均匀性，这些因素包括薄膜晶体管(TFT)阈值变化、有机发光二极管(OLED)电压和亮度变化、制造容差、沿线路电压降以及污染和驱动器输出差异等。可以使用多种测量技术测量有机发光二极管(OLED)显示器中的驱动，并且可以利用算法通过改变单个像素的偏移和增益来获取这些组合效果并校正显示器上的图像。如下文进一步所述，用于产生校正数据和校正函数的测量数据可以在面板上光学地或电学地收集。根据本文研发和限定的方法的校正数据适用于初始的T0(时间零点)和Tn(时间零点之后的时间)的校正。下文概述的用于均匀性校正的偏移方法描述了如何利用测得数据来创建校正函数中使用的偏移数据以生成均匀的校正过的像素输出。

发明内容

根据第一方面，本发明提供了一种针对具有像素的发光显示面板的非均匀性的补偿方法，每个所述像素具有发光器件，所述方法包括：选择多个灰度驱动电平，所述灰度驱动电平代表所述显示面板的可用灰度驱动电平范围的主要部分；针对每个像素，在每个预定的灰度驱动电平下测量所述像素；针对每个所述预定的灰度驱动电平，使用所述测量的结果确定相对于所述像素的所述预定的灰度驱动电平的偏移值，所述偏移值创建均匀平场；使用所述确定的偏移值确定均匀性校正函数；以及使用所述均匀性校正函数校正所述像素的输入驱动电平，以补偿所述非均匀性。

在一些实施例中，测量所述像素包括使用外部光学测量系统和集成光学测量器件中的至少一个来进行亮度的光学测量。在一些实施例中，用针对每个所述预定的灰度驱动电平的所述确定的偏移值所创建的所述均匀平场包括由所述发光显示面板的每个所述像素产生的均匀的亮度。

在一些实施例中，测量所述像素包括使用所述发光显示面板的监控系统来对所述像素的输出电流进行电力测量。在一些实施例中，用针对每个所述预定的灰度驱动电平的所述确定的偏移值所创建的所述均匀平场包括由所述发光显示面板的每个所述像素输出的均匀的电流。

在一些实施例中，使用所述测量的结果确定所述偏移值包括使用先前得到的测量的结果来确定所述偏移值。在一些实施例中，使用所述测量的结果确定所述偏移值包括迭代地调整所述预定的灰度驱动电平的初始偏移值，并重复测量所述像素，直到达到创建所述均匀平场的所述偏移值为止。

一些实施例进一步提供了将针对每个所述预定的灰度驱动电平的每个所述像素的每个偏移值存储在所述发光显示面板的存储器中。

在一些实施例中，所选择的预定的灰度驱动电平的数量为两个，并且，其中，所述均匀性校正函数是根据每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值生成的线性均匀性校正函数。在一些实施例中，所述线性均匀性校正函数是所述输入驱动电平和每个所述预定的灰度驱动电平的所述偏移值的函数。