[发明专利]一种ITO导电膜制作工艺在审
申请号: | 201910083927.9 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN109811308A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 肖新煌;张磊 | 申请(专利权)人: | 晟光科技股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/35;C23C14/02;C23C14/58 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 张明利 |
地址: | 233000 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基材 沉积 冷却 退火 磁控溅射 制作工艺 放入 磁控溅射设备 透明薄膜基材 运送 超声波清洁 镀层表面 基材表面 离子轰击 树脂基体 退火处理 再次加热 静电 抛光 污渍 抽真空 溅射室 冷却室 卸载室 氧化层 装载室 去除 卸片 加热 密封 制作 | ||
本发明公开一种ITO导电膜制作工艺,包括以下制作步骤:步骤一:将基材进行超声波清洁,去除基材表面的氧化层和污渍,步骤二:将基材放入磁控溅射设备的装载室,采用离子轰击透明薄膜基材消除静电,密封后进行抽真空,步骤三:树脂基体加热到95~100℃后运送至溅射室,采用磁控溅射方式进行第一次沉积,得到第一ITO层后,冷却至室温,步骤四:对第一ITO层镀层表面进行抛光,步骤五:沉积第一ITO层的基材再次加热到95~100℃后采用磁控溅射方式进行第二次沉积,得到第二ITO层后,运送至冷却室冷却至室温,步骤六:冷却后的基材放入卸载室,卸片,获得ITO导电膜,步骤七:将ITO导电膜进行退火处理,退火温度90~110℃,退火时间20分钟,获得一种ITO导电膜。
技术领域
本发明涉及一种ITO领域,具体是一种ITO导电膜制作工艺。
背景技术
ITO导电膜是指采用磁控溅射的方法,在透明有机薄膜材料上溅射透明氧化铟锡(ITO)导电薄膜镀层并经高温退火处理得到产品。ITO膜层的厚度不同,膜的导电性能和透光性能也不同。近年来,随着半导体制造技术的突飞猛进,诸如光电池、平面显示器、LED照明、触摸屏等新器件迅速发展起来并大量运用到我们的日常生活中。这些新器件都要用到透明导电膜作为受光面或者是发光面电极。在常规的透明导电膜里,ITO(氧化铟锡混合物)膜是最常用,也是性能最好的一种。针对这种情况,现提出一种ITO导电膜制作工艺,ITO层与树脂基体之间的结合力强的效果,产品的透过率高、电阻率低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ITO导电膜制作工艺,ITO层与树脂基体之间的结合力强的效果,产品的透过率高、电阻率低,生产过程中基材进行彻底的清洁和抛光,提高了附着性能,同时也提高了薄膜的使用寿命。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:
一种ITO导电膜制作工艺,包括以下制作步骤:
步骤一:将基材进行超声波清洁,去除基材表面的氧化层和污渍。
步骤二:将基材放入磁控溅射设备的装载室,采用离子轰击透明薄膜基材消除静电,密封后进行抽真空。
步骤三:树脂基体加热到95~100℃后运送至溅射室,采用磁控溅射方式进行第一次沉积,得到第一ITO层后,冷却至室温。
步骤四:对第一ITO层镀层表面进行抛光。
步骤五:将步骤四沉积第一ITO层的基材再次加热到95~100℃后采用磁控溅射方式进行第二次沉积,得到第二ITO层后,运送至冷却室冷却至室温。
步骤六:步骤五中冷却后的基材放入卸载室,卸片,获得ITO导电膜。
步骤七:将步骤六获得ITO导电膜进行退火处理,退火温度90~110℃,退火时间20分钟,获得一种ITO导电膜。
进一步地,所述基材厚度30μm~200μm,基材的可见光透过率为93%以上,基材为树脂基体。
进一步地,所述第一ITO层镀层表面表面粗糙度不高于2.5nm。
进一步地,所述磁控溅射设备所用的氧化铟靶材由重量百分含量为94.5%的氧化铟和重量百分含量为5.5%的氧化锡组成。
进一步地,所述磁控溅射时采用直流/射频电源,溅射电压160~170V,磁场强度1100G~1450G,工艺气体采用氩气与氧气混合气体,混合气体中氩气:氧气的体积比为2.5:1.2。
进一步地,所述ITO导电膜检测数据符合以下标准:面电阻:200~250Ω/m 2,面电阻均匀性:MD≤±3%,TD≤±5%,全光线透过率:≥93%,表面硬度(铅笔硬度):≥3H。
本发明的有益效果:
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